[发明专利]基板检测方法及终端设备

权利要求书

1.一种基板检测方法，其特征在于，包括：

对预置模板中的模块区域进行预设次数的定位；

根据定位结果生成位置校正数据；所述位置校正数据包括所述预置模板中各个模块区域的相对位置信息；

获取包含集成电路模块的初始图像，所述初始图像是整个电路基板的图像，所述电路基板上包含一个以上的所述集成电路模块；

根据预置模板，对所述初始图像中集成电路模块对应的模块区域进行定位；

判断是否定位出所述初始图像中所有的模块区域；若识别出的初始图像中的模块区域个数小于预置模板中的模块区域个数，则表明没有定位出所述初始图像中所有的模块区域；

若没有定位出所述初始图像中所有的模块区域，则根据所述位置校正数据对所述初始图像中没有被定位出的模块区域进行定位；

识别定位出的模块区域中的标记，并根据识别结果对所述模块区域对应的集成电路模块进行分类。

2.如权利要求1所述的基板检测方法，其特征在于，所述对定位出的模块区域中的标记进行识别，并根据识别结果对所述模块区域对应的集成电路模块进行分类包括：

识别所述模块区域是否包含预设标记种类中的标记；

若所述模块区域没有包含预设标记种类中的标记，则将所述模块区域对应的集成电路模块划分为合格品类。

3.如权利要求2所述的基板检测方法，其特征在于，所述预设标记种类包括第一类标记和第二类标记；所述第一类标记包括激光标记和/或颜料笔标记，所述第二类标记包括金刚笔标记；所述识别所述模块区域是否包含预设标记种类中的标记包括：

识别所述模块区域中是否包含第一类标记；

若所述模块区域中包含第一类标记，则将所述模块区域对应的集成电路模块划分为第一次品类；

若所述模块区域中没有包含第一类标记，则识别所述模块区域中是否包含第二类标记；

若所述模块区域中包含第二类标记，则将所述模块区域对应的集成电路模块划分为第二次品类。

4.如权利要求3所述的基板检测方法，其特征在于，所述识别所述模块区域中是否包含第一类标记包括：

对所述模块区域进行二值化处理，提取所述模块区域中的连通区域；

根据所述连通区域的属性判断所述模块区域是否包含第一类标记。

5.如权利要求3所述的基板检测方法，其特征在于，所述识别所述模块区域中是否包含第二类标记包括：

对所述模块区域进行傅里叶变换处理，得到所述模块区域对应的频域图像；

根据所述第二类标记的特征，判断所述模块区域对应的频域图像是否包含所述第二类标记。

6.一种基板检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取包含集成电路模块的初始图像，所述初始图像是整个电路基板的图像，所述电路基板上包含一个以上的所述集成电路模块；

定位模块，用于根据预置模板，对所述初始图像中集成电路模块对应的模块区域进行定位；

识别模块，用于识别定位出的模块区域中的标记，并根据识别结果对所述模块区域对应的集成电路模块进行分类；

训练模块，用于对所述预置模板中的模块区域进行预设次数的定位；根据定位结果生成位置校正数据；所述位置校正数据包括所述预置模板中各个模块区域的相对位置信息；

校正模块，用于根据预置模板，判断是否定位出所述初始图像中所有的模块区域；若识别出的初始图像中的模块区域个数小于预置模板中的模块区域个数，则表明没有定位出所述初始图像中所有的模块区域；若没有定位出所述初始图像中所有的模块区域，则根据所述位置校正数据对所述初始图像中没有被定位出的器件区域进行位置校正。

7.一种基板检测终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。