[发明专利]一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具

说明书

本发明公开了一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具；通过自动检索图片并通知光学检测系统进行IPC检测，自动生成检测数据报表，在给定期望数据报表的情况下，自动判断当前数据报表是否适用于当前检测；若适用，则存储当前光学检测系统IPC的检测结果，若不适用，则根据检测数据报表与期望数据报表对IPC参数进行调整，继续进行下一轮测试，直到找到合适的IPC参数。通过本发明提供的AOI系统IPC参数自动调整的方法及工具实现自动比对以及自动判定，实现AOI系统的IPC参数自动调整，不再需要现场人员手动检索图片，也不再需要现场人员人工来判断比对生成的检测数据报表是否合适，可极大提高屏幕检测效率。

技术领域

本发明属于自动光学检测技术领域，更具体地，涉及一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具。

背景技术

在现有的自动光学检测(Automatic Optic Inspection，AOI)系统下，为了保证准确的检测出屏幕缺陷，在前期运行过程中，需要不断的对IPC程式进行参数调整，以调整到合适的参数。

在液晶屏实际测试中，几乎每天都会使用调整后的IPC(检测系统电脑，Inspectpersonal computer)程式对前一天的数据进行重新检测以改进参数，改善检测效果，提高产品良率。但是，在现有技术所使用的AOI检测系统下，只能通过人工方式手动去复查检测每一片屏的数据，根据人工手动复查检测的结果来调整IPC程式的参数；由于测试现场的图片量大，手动检测的效率非常低，也容易造成漏检。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具及工具，其目的在于实现AOI系统的IPC参数自动调整，提高屏幕检测效率。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种AOI系统IPC参数自动调整的方法，包括如下步骤：

(1)将AOI系统对待测液晶面板测试生成的缺陷数据报表与预先取得的标准缺陷信息数据报表进行比对，比对的内容包括缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积，确定过检与漏检情况；并根据过检与漏检的情况对AOI系统IPC程式的参数进行调整；

过检是指没有缺陷却被AOI系统判定为缺陷的情况；漏检是指有缺陷却没有被AOI系统检出的情况；

(2)采用调整了IPC程式的参数的AOI系统再次对待测液晶面板进行测试，生成新的缺陷数据报表；

(3)将所述新的缺陷数据报表与标准缺陷信息数据报表进行比对，比对的内容包括缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积，若两者缺陷数据信息内容一致，表明当前IPC程式的参数合适，则保存当前IPC程式的参数；否则，表明IPC程式的参数不合适，用新的缺陷数据报表代替步骤(1)中的缺陷数据报表，并进入步骤(1)。

在上述的方法中，通过不断比对AOI系统实际测试生成的缺陷数据报表与标准缺陷数据信息报表并调整IPC程式的参数，直至两者缺陷数据信息内容一致，该方法无需人工参与，可自动完成，可极大的提高检测效率。

优选地，上述AOI系统IPC参数自动调整的方法，其步骤(1)中，通过调整IPC参数卡控的缺陷长度、宽度、面积阈值来降低漏检率或过检率。

优选地，上述AOI系统IPC参数自动调整的方法，其步骤(1)具体包括如下子步骤：

(1.1)将生产线上测得的缺陷数据报表与预先取得的标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并存储到ID信息报表中；

(1.2)判断漏检率或过检率是否达标；若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表中液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC(检测系统电脑，Inspect personal computer)；