[发明专利]一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具

权利要求书

1.一种AOI系统IPC参数自动调整的方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)将AOI系统对待测液晶面板测试生成的缺陷数据报表与预先取得的标准缺陷信息数据报表进行比对，比对的内容包括缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积，确定过检与漏检情况，并根据过检与漏检的情况对AOI系统IPC程式的参数进行调整；

(2)采用调整了IPC程式的参数的AOI系统再次对待测液晶面板进行测试，生成新的缺陷数据报表；

(3)将所述新的缺陷数据报表与所述标准缺陷信息数据报表进行比对，比对的内容包括缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积，若两者缺陷数据信息内容一致，则保存当前IPC程式的参数；否则，用新的缺陷数据报表代替步骤(1)中的缺陷数据报表，并进入步骤(1)。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤(1)包括如下子步骤：

(1.1)将AOI系统生产线上测得的缺陷数据报表与预先取得的标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并存储到ID信息报表中；

(1.2)判断漏检率或过检率是否达标；若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表中液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC；

(1.3)由IPC采用原图对待测液晶面板进行检测；由AOI系统的CPC根据IPC检测的结果生成新的缺陷数据报表，进入步骤(1.1)。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述步骤(1)中，通过调整IPC参数卡控的缺陷长度、宽度、面积阈值来降低漏检率或过检率。

4.一种AOI系统IPC参数自动调整的装置，包括用于生成待测液晶面板的缺陷数据报表的AOI系统，该AOI系统包括用于液晶面板缺陷检测的IPC、用于根据缺陷检测的结果生成缺陷数据报表的CPC；

其特征在于，该装置还包括处理器，用于存储各生产线上测得的缺陷数据报表和ID信息报表、以及预先取得的标准缺陷信息数据报表的存储器，以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序；

该计算机程序被处理器执行时读取所述缺陷数据报表、ID信息报表、以及标准缺陷信息数据报表，并实现如权利要求1～3任一项所述方法的步骤。

5.一种用于实现AOI系统IPC参数自动调整的工具，其特征在于，所述工具包括用于实现以下功能的处理器：

(a)存储各线体发送的缺陷数据报表和ID信息报表；

(b)从预先取得的标准数据报表里获取面板的缺陷数据信息，包括面板ID以及面板缺陷的类型、坐标、长度、宽度、面积；

(c)将线体发送的缺陷数据报表与上述标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并发送给线体上的IPC；

(d)判断过检率或漏检率是否达标，若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表所存储的液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC。