[发明专利]一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备

说明书

技术领域

本发明属于移动通信终端射频性能测试技术领域，尤其涉及一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备。

背景技术

当前，手机等无线通信产品(移动通信终端)的射频性能耦合测试(2G/3G/4G/WIFI/BT/GPS)的方法都是通过把被测产品直接放在测试天线上或者靠近测试天线去测试，一般没有考虑到被测产品的天线辐射区与测试天线辐射区的充分耦合，同时测试夹具的材质对无线信号的影响也没有考虑进来，这样的测试方法造成了有功率偏低的坏机，测试结果却是正常的，不能达到有效拦截不良坏机的目的，测试可靠性欠佳。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，其测试可靠性佳。

本发明的技术方案是：一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，包括以下步骤：

将无线通信设备通过夹具固定；

将固定有无线通信设备的夹具放置于屏蔽箱内，使所述无线通信设备悬空，且无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；

调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，记录或固定测试天线和无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值的位置；

将所述无线通信设备替换为功率低于设定值的坏机，检验测试结果，若测试结果显示检测结果为坏机，则直接采用另一待测无线通信设备继续测试，若测试结果未能显示为坏机，则微调坏机和测试天线的相对位置至测试结果检测出坏机后采用另一待测无线通信设备继续测试。

可选地，测试前，对所述测试天线和无线通信设备中天线的有效辐射区域进行净空处理。

可选地，所述夹具夹于所述无线通信设备的两侧。

可选地，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为2至12厘米。

可选地，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为4至6厘米。

本发明还提供了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备，包括屏蔽箱、设置于所述屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备的夹具、设置于所述屏蔽箱内且与夹具相向间距设置的测试天线和用于监测所述测试天线和无线通信设备之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置。

可选地，所述夹具连接有夹持于无线通信设备两侧的夹具支架。

可选地，所述夹具或/和所述夹具支架采用绝缘且防静电的材质。

可选地，所述测试天线为定向辐射天线。

可选地，所述测试天线通过方位调节部件连接于所述夹具或屏蔽箱。

本发明所提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，在屏蔽箱内，可以通过夹具把被测的无线通信设备悬空支撑起来，使无线通信设备与测试天线之间有一定空间，无线通信设备的天线和测试天线辐射方向面对面放置，辐射区域周围净空处理，以达到最佳的耦合效果，准确模拟OTA暗室实验室的耦合测试环境，可以有效拦截坏机，测试可靠性佳。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备的主视图；

图2是本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备的俯视图；

图3是本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备的左视图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

还需要说明的是，本发明实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。

如图1至图3所示，本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，可以用于测试无线通信终端(手机、平板电脑)射频性能耦合测试(2G/3G/4G/WIFI/BT/GPS)，本实施例中，以手机为例，包括以下步骤：