[发明专利]一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备在审
| 申请号： | 201710709986.3 | 申请日： | 2017-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN107733537A | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 甘绍光 | 申请（专利权）人： | 广东小天才科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/327;H04B5/00 |
| 代理公司： | 深圳青年人专利商标代理有限公司44350 | 代理人： | 吴桂华 |
| 地址： | 523000 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射频 性能 测试 暗室 耦合 方法 设备 | ||
1.一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
将无线通信设备通过夹具固定；
将固定有无线通信设备的夹具放置于屏蔽箱内，使所述无线通信设备悬空，且无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；
调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，记录或固定测试天线和无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值的位置；
将所述无线通信设备替换为功率低于设定值的坏机，检验测试结果，若测试结果显示检测结果为坏机，则直接采用另一待测无线通信设备继续测试，若测试结果未能显示为坏机，则微调坏机和测试天线的相对位置至测试结果检测出坏机后采用另一待测无线通信设备继续测试。
2.如权利要求1所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，测试前，对所述测试天线和无线通信设备中天线的有效辐射区域进行净空处理。
3.如权利要求1所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，所述夹具夹于所述无线通信设备的两侧。
4.如权利要求1所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为2至12厘米。
5.如权利要求4所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为4至6厘米。
6.一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备，其特征在于，包括屏蔽箱、设置于所述屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备的夹具、设置于所述屏蔽箱内且与夹具相向间距设置的测试天线和用于监测所述测试天线和无线通信设备之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置。
7.如权利要求6所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述夹具连接有夹持于无线通信设备两侧的夹具支架。
8.如权利要求7所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述夹具或/和所述夹具支架采用绝缘且防静电的材质。
9.如权利要求6所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述测试天线为定向辐射天线。
10.如权利要求6所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述测试天线通过方位调节部件连接于所述夹具或屏蔽箱。
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