[发明专利]一种无损测试红外探测器峰值电压的方法有效
申请号: | 201710700715.1 | 申请日: | 2017-08-16 |
公开(公告)号: | CN107607206B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 徐庆安;邵逸恺;袁鸣;田广;刘旭力;吕志强;崔爽;宋泊威;刘豫东;宋志华 | 申请(专利权)人: | 北京控制工程研究所 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 万用表 红外探测器 峰值电压 电阻 测试红外探测器 灵敏 直流电源电压 无损 万用表电压 显示电压 减小 热阻 阻抗 损伤 递增 | ||
本发明公开了一种无损测试红外探测器峰值电压的方法,该方法包括如下步骤:直到万用表电压显示到5±0.5V,记下此时的万用表及皮安计读数,分别为第一电压V1及第一电流I1,根据第一电压V1及第一电流I1得出第一电阻R1;当万用表显示电压在30V以上时,减小直流电源电压递增步长为1V~3V,并不断记下万用表的读数和皮安计的读数,根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R2’;当R1/R2’为1.8~2.1时,停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V2和皮安计的读数即第二电流I2,得到第二电阻R2;得到红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z;得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压VP。本发明解决了红外探测器的灵敏元薄片易受损伤的问题。
技术领域
本发明属于光电探测领域,尤其涉及一种无损测试红外探测器峰值电压的方法。
背景技术
热敏电阻型红外探测器在使用时外加偏置电压,利用热敏电阻对温度的敏感特性来改变电路中电流强度的大小,从而得到相应的电信号。对于NTC热敏电阻,当加在热敏元件上的偏置电压大于峰值电压时,元件电阻会急剧下降,电流迅速增加,温度迅速增高,进而导致热敏电阻烧毁。因此,峰值电压是使用者选择偏置电压的重要依据。对于热敏电阻峰值电压可利用伏安特性进行测量。NTC热敏电阻的伏安特性如图1所示。
当通过元件的电流较小时,由电流引起的焦耳热很小,所以元件的阻值变化微小,基本符合欧姆定律,即动态电阻是恒量,热敏电阻的端电压V和电流强度I呈线性关系。当电流逐渐增大时,焦耳热增大,导致元件阻值下降、电流增加,此时电压虽然也在增加,但其增加速度比电流慢,因此动态电阻减小,伏安特性曲线发生弯曲。当电流增加到一定值时,热敏电阻端电压达到最大值,被称为峰值电压,此刻动态电阻为0。随后继续增大电流强度,由于电阻迅速下降,端电压反而降低,出现动态电阻为负值的负阻区。
传统的测试方法直接对红外探测器主片或补片施加电压,所加偏压需要达到峰值电压进行测量,由于峰值电压是红外探测器的极限偏压,因此此过程会造成器件损坏或性能下降,是影响红外探测器在轨使用可靠性的重大隐患。
发明内容
本发明解决的技术问题是:为克服现有技术的不足,提供一种无损测试红外探测器峰值电压的方法,解决了红外探测器的灵敏元薄片易受损伤的问题。
本发明的技术方案是:一种无损测试红外探测器峰值电压的方法,所述方法包括如下步骤:
(1)将直流电源电压降为0V,将红外探测器主片对应的管脚插入对应的两根接插孔,逐步调大直流电源电压,直到万用表电压显示到5±0.5V,记下此时的万用表及皮安计读数,分别为第一电压V1及第一电流I1,根据第一电压V1及第一电流I1得出第一电阻R1;
(2)按照5V的步长逐渐调大直流电源电压,当万用表显示电压在30V以上时,减小直流电源电压递增步长为1V~3V,并不断记下万用表的读数和皮安计的读数,根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R2’;当R1/R2’为1.8~2.1时,停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V2和皮安计的读数即第二电流I2,根据第二电压V2和第二电流I2得到第二电阻R2;
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