[发明专利]一种无损测试红外探测器峰值电压的方法

权利要求书

1.一种无损测试红外探测器峰值电压的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

(1)将直流电源电压降为0V，将红外探测器与接插件相连接，调大直流电源电压，直到万用表电压显示到5±0.5V，记下此时的万用表及皮安计读数，分别为第一电压V₁及第一电流I₁，根据第一电压V₁及第一电流I₁得出第一电阻R₁；

(2)按照一定的步长调大直流电源电压，当万用表显示电压在30V以上时，减小直流电源电压递增步长，并实时记下万用表的读数和皮安计的读数，根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R₂’；当R₁/R₂’为1.8～2.1时，停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V₂和皮安计的读数即第二电流I₂，根据第二电压V₂和第二电流I₂得到第二电阻R₂；

(3)根据第一电压V₁及第一电流I₁得到第一功率W₁，根据第二电压V₂和第二电流I₂得出第二功率W₂，根据第一功率W₁、第二功率W₂、第一电阻R₁和第二电阻R₂得到红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z；

(4)根据外界温度T₀得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压时的温度T_p；

(5)根据热阻阻抗Z、第一电阻R₁、峰值电压时的温度T_p和外界温度T₀得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压V_P；其中，

在步骤(3)中，第一功率W₁的公式为：W₁＝V₁×I₁；

第二功率W₂的公式为：W₂＝V₂×I₂；

红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z的公式为：Z＝(2.303/α)×{log₁₀(R₁/R₂)/(W₂-W₁)}，其中，α为电阻温度系数；

在步骤(4)中，红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压时的温度T_p的公式如下：

其中，T₀为外界温度，B为红外探测器的灵敏元薄片的材料常数；

在步骤(5)中，红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压V_P的公式如下：

V_P＝[(R₀×(T_p-T₀))/3Z]^1/2。

2.根据权利要求1所述的无损测试红外探测器峰值电压的方法，其特征在于：在步骤(1)中，第一电阻R₁的公式为：R₁＝V₁/I₁。

3.根据权利要求1所述的无损测试红外探测器峰值电压的方法，其特征在于：在步骤(2)中，第二电阻R₂的公式为：R₂＝V₂/I₂。

4.根据权利要求1所述的无损测试红外探测器峰值电压的方法，其特征在于：在步骤(2)中，一定的步长为5V，减小直流电源电压递增步长为1V～3V。