[发明专利]一种光学跟踪方法和装置

权利要求书

1.一种光学跟踪方法，其特征在于，所述方法包括：

S10、对于预设至少两个发射器，通过每个发射器正前方预设的至少两个校准器接收该发射器发射的水平方向扫描信号和垂直方向扫描信号；

S20、根据每个发射器正前方预设的至少两个校准器接收该发射器发射的水平方向扫描信号和垂直方向扫描信号，获取所述至少两个发射器对应的水平角速度和垂直角速度；

S30、获取预设接收器依次接收的所述至少两个发射器发射的水平方向扫描信号和垂直方向扫描信号；

S40、根据每个发射器正前方预设的至少两个校准器接收该发射器发射的水平方向扫描信号和垂直方向扫描信号、预设接收器依次接收的所述至少两个发射器发射的水平方向扫描信号和垂直方向扫描信号、所述至少两个发射器对应的水平角速度和垂直角速度分别获取所述接收器在所述至少两个发射器中的图像坐标；

S50、根据所述接收器在所述至少两个发射器中的图像坐标进行光学跟踪。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述S10之前，还包括：

S00、判断预设扫描电机的转速是否恒定；

如果转速不恒定，执行所述S10。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，如果转速恒定，还包括：

S60、获取所述接收器依次接收的所述至少两个发射器发射的第一同步扫描信号、水平方向扫描信号、第二同步扫描信号和垂直方向扫描信号；

S70、根据预设转速以及所述接收器依次接收的所述至少两个发射器发射的第一同步扫描信号、水平方向扫描信号、第二同步扫描信号和垂直方向扫描信号进行光学跟踪。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述S20包括：

S201、对于所述每个发射器正前方预设的至少两个校准器中每两个校准器，获取水平方向扫描时从第一校准器到第二校准器两个校准器之间扫过的水平扫描角度θ_x；

S202、获取垂直方向扫描时每两个校准器之间扫过的垂直扫描角度θ_y；

S203、获取每两个校准器接收水平方向扫描信号的水平时间差Δt_x；

S204、获取每两个校准器接收垂直方向扫描信号的垂直时间差Δt_y；

S205、根据所述水平扫描角度θ_x和所述水平时间差Δt_x，通过水平角速度公式，获取所述至少两个校准器对应的水平角速度w_x；

S206、根据所述垂直扫描角度θ_y和所述垂直时间差Δt_y，通过垂直角速度公式，获取所述至少两个校准器对应的垂直角速度w_y；

所述水平角速度公式为：

所述垂直角速度公式为：

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述S40，包括：

S401、对于每个发射器正前方预设的至少两个校准器中任一校准器，获取该校准器接收水平方向扫描信号与所述接收器接收水平方向扫描信号的第一时间差t₁；

S402、获取该校准器接收垂直方向扫描信号与所述接收器接收垂直方向扫描信号的第二时间差t₂；

S403、获取所述发射器在水平方向与该校准器的第一夹角θ_x0；

S404、获取所述发射器在垂直方向与该校准器的第二夹角θ_y0；

S405、根据该校准器对应的水平角速度w_x、垂直角速度w_y、第一时间差t₁、第二时间差t₂、第一夹角θ_x0和第二夹角θ_y0，通过坐标计算公式，获取所述接收器在对应发射器中的图像坐标(u,v)；

所述坐标计算公式为：