[发明专利]一种基于稀土玻璃的费尔德常数测量系统的测量方法

说明书

本发明涉及一种基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法，主要解决现有技术中存在的测量灵敏度低、测量准确度低的技术问题，本发明通过采用所述系统包括线偏振光产生器，待测稀土玻璃，双折射晶体，起偏器，迈克尔逊干涉仪，与迈克尔逊干涉仪连接的会聚透镜，与会聚透镜连接的数据采集卡，与数据采集卡连接的上位机，迈克尔逊干涉仪受控于上位机；待测稀土玻璃两侧分别设有可变间距电磁铁的两端极，可变间距电磁铁受控于直流电源，可变间距电磁铁两端极间设有磁场强度测量装置；上位机设有存储介质，所述存储介质存储有干涉仪控制程序及稀土玻璃费尔德系数计算程序的解决了该问题，可用于磁光材料费尔德常数测量中。

技术领域

本发明涉及磁光材料费尔德常数测量领域，特别涉及到一种基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法。

背景技术

稀土掺杂玻璃以其独特的磁光特性在激光陀螺，光纤电流互感器等方面有重要的应用。而在这些应用中，稀土掺杂玻璃材料的费尔德常数是影响其性能的重要参数，该参数直接决定了传感器的测量灵敏度。

目前，现有的测量磁光材料的费尔德常数的方法有检偏法，双光路差分法和光干涉等方法。本发明提出一种稀土玻璃费尔德常数测量系统及测量方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中存在的测量灵敏度低、准确度低的问题。提供一种稀土玻璃费尔德常数测量系统及测量方法，该稀土玻璃费尔德常数测量系统及测量方法具有测量灵敏度高、测量方便、准确度高的特点。

为解决上述技术问题，采用的技术方案如下：

一种稀土玻璃费尔德常数测量系统，所述系统包括线偏振光产生器，位于线偏振光产生器平行位置对应设置的待测稀土玻璃104，位于待测稀土玻璃104 平行位置对应设置的双折射晶体105，位于双折射晶体105平行位置对应设置的检偏器106，位于检偏器106对应平行位置对应设置的迈克尔逊干涉仪，与迈克尔逊干涉仪连接的会聚透镜201，与会聚透镜201连接的光电探测器202，与光电探测器连接的数据采集卡204，与数据采集卡204连接的上位机，所述迈克尔逊干涉仪还通过数据采集卡204受控于上位机；所述待测稀土玻璃104两侧分别设有可变间距电磁铁206的两端极，所述可变间距电磁铁206受控于直流电源207，所述可变间距电磁铁206两端极间还设有磁场强度测量装置；所述迈克尔逊干涉仪由分束器107，于分束器107垂直两轴设置的第一反射镜108及第二反射镜109组成，所述第二反射镜109下设有电动平移台203，所述电动平移台203与数据采集卡204连接；所述上位机设有存储介质，所述存储介质存储有干涉仪控制程序及稀土玻璃费尔德系数计算程序；

所述干涉仪控制程序配置为：控制电动平移台203使第二反射镜109作来回扫描，所述稀土博尔德系数计算程序配置为：对所述数据采集卡204数据进行多次平均和小波滤波，通过对数运算计算得出稀土玻璃的费尔德常数V。

本发明的工作原理：通过数据采集卡204驱动电动平移台203实现迈克尔逊干涉仪的扫描，同时采集干涉仪的输出信号，传送给上位机，上位机对数据进行多次平均和小波滤波，再通过对数运算得到稀土玻璃的费尔德常数。

上述技术方案中，为优化，进一步地，所述磁场强度测量装置包括位于可变间距电磁铁206两端极间的磁场测量探头208，所述磁场测量探头208连接有高斯计209。

进一步地，所述线偏振光产生器包括光源，与光源对应设置的扩束准直透镜102，与扩束准直透镜102对应设置的起偏器103。

进一步地，所述光源为宽谱光源101。

进一步地，所述直流电源207为受控于上位机，大小连续自动可调的直流电源。

进一步地，所述可变间距电磁铁206的两端极分别包括至少一个铜线圈。

本发明还提供一种基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法，所述测量方法包括：