[发明专利]一种基于稀土玻璃的费尔德常数测量系统的测量方法在审

专利信息
申请号: 201710636166.6 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN109323991A 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 卢平 申请(专利权)人: 苏州润桐专利运营有限公司
主分类号: G01N21/23 分类号: G01N21/23
代理公司: 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 代理人: 赵丽丽
地址: 215600 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 稀土玻璃 电磁铁 测量 迈克尔逊干涉仪 尔德常数 上位机 可变 数据采集卡 测量系统 存储介质 会聚透镜 受控 控制程序 磁场强度测量 系数计算程序 线偏振光产生 双折射晶体 准确度 直流电源 干涉仪 灵敏度 起偏器 磁光 可用 存储
【权利要求书】:

1.一种基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法,其特征在于:所述测量方法包括:

(1)将待测稀土玻璃(104)置于可变间距电磁铁(206)中,通过直流电源(207)为电磁铁供电,用高斯计(209)测量磁场强度B;

(2)打开线偏振光产生器,线偏振光经过稀土玻璃后的光偏振方向发生改变,通过迈克尔逊干涉仪第二反射镜(109)的扫描得到干涉条纹,通过干涉条纹的强度及θ=arcsin((1+(IF/Imain)2)/2)得到磁场强度B的法拉第转角,并通过θ=VBL得到待测稀土玻璃(104)的费尔德常数V;

(3)改变直流电源(207)的电压值大小使稀土玻璃所处磁场大小改变,重复步骤(1)及步骤(2),通过至少两次测量,求平均值得到费尔德常数测量值。

2.根据权利要求1所述的基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法,其特征在于:所述步骤(2)中通过迈克尔逊干涉仪第二反射镜(109)的扫描得到干涉条纹包括:调整双折射晶体(105)的快轴或慢轴成与线偏振光产生器的偏振方向重合;检偏器(106)与双折射晶体(105)的快轴或慢轴成45度夹角,分束器(107)输出光经第一反射镜(108)及第二反射后合束形成干涉条纹。

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