[发明专利]一种BBU循环放电的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及存储系统领域，具体的说是一种BBU循环放电的测试方法。

背景技术

通常，计算机的存储系统包含存放程序和数据的各种存储设备、控制部件及管理信息调度的设备和算法，存储系统的性能在计算机中的地位日趋重要。存储系统需要具备数据保护功能，许多存储设备都会配备BBU（Battery Backup Unit，电池备份单元）。

在电源AC断电的情况下，由BBU放电来维持存储系统正常运行数据落盘，从而确保存储系统中数据不丢失。为了保证BBU在AC断电的情况下能够放电，需要对BBU的放电功能进行大量测试，甚至达到上千次测试。

发明内容

本发明针对目前技术发展的需求和不足之处，提供一种BBU循环放电的测试方法。

本发明所述一种BBU循环放电的测试方法，解决上述技术问题采用的技术方案如下：所述BBU循环放电的测试方法，通过编写测试脚本，确定测试脚本能够调用执行，并对测试脚本赋予执行权限；使用该测试脚本，对BBU放电功能进行循环测试，并将测试执行结果写入日志。

优选的，该BBU循环放电的测试方法，其具体实现步骤包括：

1）拉高BBU放电使能端DHG FET；

2）开启系统掉电测试，读取当前BBU放电电流值；

3）判断放电电流是否异常；

4）停止系统掉电测试；

5）大量循环上述操作。

优选的，对BBU循环放电测试，循环1000次。

本发明所述一种BBU循环放电的测试方法，与现有技术相比具有的有益效果是：本方法能够实现BBU放电的循环测试，极大提高了测试效率，节省了大量人力资源；通过本方法，能够测试BBU放电功能是否正常，进而保证存储系统内数据在系统掉电时不丢失，提高了系统性能。

附图说明

附图1为BBU循环放电的测试方法的测试脚本的示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，对本发明所述一种BBU循环放电的测试方法进一步详细说明。

实施例:1：

本实施例提出了一种BBU循环放电的测试方法，具体实现过程包括：编写测试脚本，并确定测试脚本能够调用执行，对测试脚本赋予执行权限；使用该测试脚本，对BBU放电功能进行循环测试，并将测试执行结果写入日志，以备测试人员查看BBU放电测试是否达到标准。

本实施例所述BBU循环放电的测试方法，其具体步骤包括：

1）拉高BBU放电使能端DHG FET；

2）开启系统掉电测试，读取当前BBU放电电流值；

3）判断放电电流是否异常；

4）停止系统掉电测试；

5）大量循环上述操作。

实施例2：

本实施例所述BBU循环放电的测试方法，在实施例1的基础上，如附图1所示，其具体实现步骤如下：

1）拉高BBU放电使能端DHG FET；

2）开启系统掉电测试，读取当前BBU放电电流值；

3）判断放电电流是否异常；

4）停止系统掉电测试；

5）循环1000次。

本实施例所述BBU循环放电的测试方法，所编写的测试脚本如下：

#!/bin/bash

# 查看并确保DHG FET BBU放电使能端打开

FET_STAT=$((`i2cctl -b0 rw,0xb,0x46`))

if ((($FET_STAT & 2) == 0))

then

FET_STAT=$(($FET_STAT | 2))

i2cctl -b0 ww,0xb,0x46,$FET_STAT

echo Enabled DSG FET /($FET_STAT/)

fi

for i in {1..1000}

do

# 打开系统掉电测试

i2cctl -b0 wb,0x67,5,0x05

# 查看BBU放电时电压和电流

sleep 1

echo Voltage $((`i2cctl -f -b0 rw,0xb,9`))mV

mA=$((`i2cctl -f -b0 rw,0xb,0x0a`))

if(($mA < 32767))

then