[发明专利]一种BBU循环放电的测试方法在审

专利信息
申请号: 201710630201.3 申请日: 2017-07-28
公开(公告)号: CN107422208A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 李佳颖 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/36
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司37100 代理人: 韩月娥
地址: 450000 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 bbu 循环 放电 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于, 通过编写测试脚本,确定所述测试脚本能够调用执行,并对测试脚本赋予执行权限;使用所述测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志。

2.根据权利要求1所述一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于, 使用所述测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,其具体实现步骤包括:

1)拉高BBU放电使能端DHG FET;

2)开启系统掉电测试,读取当前BBU放电电流值;

3)判断放电电流是否异常;

4)停止系统掉电测试;

5)大量循环上述操作。

3.根据权利要求2所述一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于, 所述步骤5),循环1000次。

4.根据权利要求2所述一种BBU循环放电的测试方法,其特征在于, 所述测试脚本具体如下:

#!/bin/bash

# 查看并确保DHG FET BBU放电使能端打开

FET_STAT=$((`i2cctl -b0 rw,0xb,0x46`))

if ((($FET_STAT & 2) == 0))

then

FET_STAT=$(($FET_STAT | 2))

i2cctl -b0 ww,0xb,0x46,$FET_STAT

echo Enabled DSG FET /($FET_STAT/)

fi

for i in {1..1000}

do

# 打开系统掉电测试

i2cctl -b0 wb,0x67,5,0x05

# 查看BBU放电时电压和电流

sleep 1

echo Voltage $((`i2cctl -f -b0 rw,0xb,9`))mV

mA=$((`i2cctl -f -b0 rw,0xb,0x0a`))

if(($mA < 32767))

then

echo “Battery discharging current is Error.”

else if (($mA > 32767))

then

mA=$(($mA - 65536))

fi

echo Current $mA*2 mA

#终止系统掉电测试

i2cctl -b0 wb,0x67,5,0x45

echo -e "The test time is $i./n"

done。

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