[发明专利]一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法在审
申请号: | 201710623359.8 | 申请日: | 2017-07-27 |
公开(公告)号: | CN107300664A | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 王尧;荆雷;王潇洵;高群;孙强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/44 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 | 代理人: | 赵勍毅 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 灯具 温度 加速 老化 中的 寿命 误差 试验 方法 | ||
技术领域
本发明涉及LED可靠性测试领域,尤其涉及一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法。
背景技术
LED(light emitting diode)具有体积小、寿命长、亮度高、节能高效等诸多优点,被认为是取代白炽灯、荧光灯、高压气体放电灯的第四代照明光源。已被广泛应用于信号指示、LCD背光、显示、通用照明等领域。当诸多学者致力于研究其长寿命及其可靠性的问题时,其中不可忽略的问题,为如何在较短的截止时间内给出LED产品的高可靠性寿命。
现有的老化测试截止时间大部分是参考美国能源之星报道的相关标准,如IES LM-79,IES LM-80,IES TM-21和IES TM-28.不管是对于模块、器件或是灯具,这些标准建议的测试时间至少为6000小时,如此长的测试时间影响了LED照明产品更新换代的速率,因此,目前便有学者提出LED产品的加速老化试验中截止时间是以光通量的衰减作为规定,截止时间越长,寿命预估便会越精确,但是无法得到LCD灯具加速老化过程中最小的截止时间以保证寿命预估的精确性。
发明内容
本发明旨在解决现有技术中无法得到LCD灯具加速老化过程中最小的截止时间以保证寿命预估的精确性的技术问题,提供一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法。
本发明提供一种实施例的LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法,所述测量方法包括以下步骤:
设定样品数量,并准备对应样品数量的LED目标试样;
对LED目标试样进行加速老化试验,得到每个LED目标试样的所有光衰数据;
根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合,得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命;
对同一老化时间下LED目标试样的初始寿命进行威布尔拟合,得到在衰减机理不发生改变时每个老化时间对应的形状参数和特征参数;
根据所述每个老化时间对应的形状参数和特征参数,得到每个老化时间下LED目标试样的中位寿命;
根据预设的滑动平均误差的阶数,采用滑动平均误差值的方法对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行误差分析,得到不同截止时间下的滑动平均误差值。
本发明还提供一种实施例的计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
本发明的技术方案与现有技术相比,有益效果在于:首先根据e指数衰减律拟合出每个样本的初始寿命。其次在威布尔分布条件下,对样本的初始寿命进行拟合,给出不同截止时间条件下对应的特征参数和形状参数的预估,同时给出样本对应的中位寿命,最后对样本的中位寿命进行预设阶数的滑动平均误差分析,得到不同截止时间下的滑动平均误差值并根据滑动平均误差值确定最小截止时间,使得温度加速老化试验的老化时间为最小截止时间,从而保证寿命预估的精确性。
附图说明
图1为本发明LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法一种实施例的流程图。
图2为本发明LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法另一种实施例的流程图。
图3为本发明LED灯具的温度加速老化试验系统一种实施例的结构示意图。
图4(a)和图4(b)分别对应为本发明的80℃和85℃的光衰曲线图。
图5为本发明的80℃温度应力条件下不同截止时间对应的数据分析图。
图6为本发明的80℃温度应力条件下不同截止时间对应的误差分析图。
图7为本发明的85℃温度应力条件下不同截止时间对应的数据分析图。
图8为本发明的85℃温度应力条件下不同截止时间对应的误差分析图。
图中,1、恒温箱;2、积分球;3、恒温箱1的旋转结构;4、光谱辐射计;5、计算机。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步说明。
本发明提供一种实施例的LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法,如图1所示,所述测量方法包括以下步骤:
步骤S11,设定样品数量,并准备对应样品数量的LED目标试样;
步骤S12,对LED目标试样进行加速老化试验,得到每个LED目标试样的所有光衰数据;
步骤S13,根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合,得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命;
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