[发明专利]一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法

权利要求书

1.一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法，其特征在于：所述寿命误差试验方法包括以下步骤：

设定样品数量，并准备对应样品数量的LED目标试样；

对LED目标试样进行加速老化试验，得到每个LED目标试样的所有光衰数据；

根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命；

对同一老化时间下LED目标试样的初始寿命进行威布尔拟合，得到在衰减机理不发生改变时每个老化时间对应的形状参数和特征参数；

根据所述每个老化时间对应的形状参数和特征参数，得到每个老化时间下LED目标试样的中位寿命；

根据预设的滑动平均误差的阶数，采用滑动平均误差值的方法对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行误差分析，得到不同截止时间下的滑动平均误差值。

2.如权利要求1所述的试验方法，其特征在于：所述对LED目标试样进行加速老化试验的步骤，具体为：

在不同温度应力条件对LED目标试样进行加速老化试验。

3.如权利要求1所述的试验方法，其特征在于：在根据所述每个老化时间对应的形状参数和特征参数，得到每个老化时间下LED目标试样的中位寿命的步骤之后，还包括以下步骤：

对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行分析，得到选取区域的老化时间段下LED目标试样的中位寿命。

4.如权利要求3所述的试验方法，其特征在于：所述选取区域的老化时间段具体为：中位寿命下降区域所对应的老化时间段。

5.如权利要求3或4所述的试验方法，其特征在于：所述根据预设的滑动平均误差的阶数，采用滑动平均误差值的方法对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行误差分析，得到不同截止时间下的滑动平均误差值的步骤，具体为：

所述根据预设的滑动平均误差的阶数，采用滑动平均误差值的方法对选取区域的老化时间段下LED目标试样的中位寿命进行误差分析，得到不同截止时间下的滑动平均误差值。

6.如权利要求1所述的试验方法，其特征在于：根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命的计算公式为：

τ=-ln(0.7)βT;]]>

其中，τ为每个LED目标试样的初始寿命，为光通量衰减的相对值且等于0.7，β_T为结温为T时的退化系数。

7.如权利要求1所述的试验方法，其特征在于：对同一老化时间下LED目标试样的初始寿命进行威布尔拟合，得到在衰减机理不发生改变时每个老化时间对应的形状参数和特征参数的计算公式如下：

F(τ)=1-e-(τη)m;]]> 1

其中m为形状参数，η为特征参数，F(τ)为失效概率。