[发明专利]一种计算电流采样芯片的系统增益的方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种计算电流采样芯片的系统增益的方法，所述电流采样芯片设置在电调上，所述电调上还设置有采样电阻，所述电流采样芯片与所述采样电阻电连接，所述电流采样芯片内部设置有第一放大电阻和第二放大电阻，所述方法包括：获取所述采样电阻的电阻值r；获取所述第一放大电阻的电阻值R₁以及所述第二放大电阻的电阻值R₂；根据所述电阻值r、R₁和R₂计算所述电流采样芯片的系统增益K。通过本发明实施例，能够有效解决分压电阻的差异导致的电流采样芯片的系统增益计算上的误差，从而提高系统增益计算结果的准确度。

技术领域

本发明涉及电机控制技术领域，具体涉及一种计算电流采样芯片的系统增益的方法及装置。

背景技术

运算放大器是电子调速器(简称“电调”)上重要的电路单元，在电机控制中，电流采样芯片通过运算放大器计算得到电调所控制的电机的采样电流，从而计算出电机的转子转速。在计算电机的采样电流时，系统增益是计算所需的重要参数。对于内部自带运算放大器的电流采样芯片而言，在计算其系统增益时，需要代入位于电流采样芯片外部并与其电连接的一个或多个同样设置在电调上的分压电阻的电阻值。在实际应用情况中，电调上的分压电阻的实际电阻值可能由于环境等因素的影响有所不同，这会给系统增益的计算带来误差，从而导致所计算的电机的采样电流不准确，这会给电机的控制造成影响。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于现有技术中的在计算电流采样芯片的系统增益时准确度较低，从而提供一种电流采样芯片的系统增益的计算方法及装置。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种计算电流采样芯片的系统增益的方法，所述电流采样芯片设置在电调上，所述电调上还设置有采样电阻，所述电流采样芯片与所述采样电阻电连接，所述电流采样芯片内部设置有第一放大电阻和第二放大电阻，所述方法包括：

获取所述采样电阻的电阻值r、所述第一放大电阻的电阻值R₁以及所述第二放大电阻的电阻值R₂；

根据所述电阻值r、R₁和R₂计算所述电流采样芯片的系统增益K。

在一实施例中，计算所述系统增益K的计算公式如下：

其中，C为所述电流采样芯片的输入数字量，n为所述电流采样芯片的芯片位数，

在一实施例中，上述的芯片输入数字量C为在所述电流采样芯片初始化时，在所述电流采样芯片的寄存器上读取的输入数字量。

在一实施例中，上述的电调上还设置有第一分压电阻和第二分压电阻，所述第一分压电阻和所述第二分压电阻分别与所述采样芯片电连接。

在一实施例中，所述方法还包括：根据计算得到的所述系统增益K，计算由所述电调控制的电机的采样电流，从而计算所述电机的转子的位置。

在一实施例中，所述电调设置在无人飞行器(Unmanned Aerial Vehicle，UAV)上。

在一实施例中，所述电调的数量为4个。

本发明实施例还提供一种计算电流采样芯片的系统增益的装置，所述电流采样芯片设置在电调上，所述电调上还设置有采样电阻，所述电流采样芯片与所述采样电阻电连接，所述电流采样芯片内部设置有第一放大电阻和第二放大电阻，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述采样电阻的电阻值r、所述第一放大电阻的电阻值R₁以及所述第二放大电阻的电阻值R₂；

系统增益计算模块，用于根据所述电阻值r、R₁和R₂计算所述电流采样芯片的系统增益K。