[发明专利]一种计算电流采样芯片的系统增益的方法及装置

权利要求书

1.一种计算电流采样芯片的系统增益的方法，所述电流采样芯片设置在电调上，所述电调上还设置有采样电阻，所述电流采样芯片与所述采样电阻电连接，其特征在于，所述电流采样芯片内部设置有第一放大电阻和第二放大电阻，所述方法包括：

获取所述采样电阻的电阻值r、所述第一放大电阻的电阻值R₁以及所述第二放大电阻的电阻值R₂；

根据所述电阻值r、R₁和R₂计算所述电流采样芯片的系统增益K；

其中，计算所述系统增益K的计算公式如下：

其中，C为所述电流采样芯片的输入数字量，n为所述电流采样芯片的芯片位数，

2.根据权利要求1所述的计算电流采样芯片的系统增益的方法，其特征在于，所述芯片输入数字量C为在所述电流采样芯片初始化时，在所述电流采样芯片的寄存器上读取的输入数字量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电调上还设置有第一分压电阻和第二分压电阻，所述第一分压电阻和所述第二分压电阻分别与所述采样芯片电连接。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据计算得到的所述系统增益K，计算由所述电调控制的电机的采样电流，从而计算所述电机的转子的位置。

5.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述电调设置在无人飞行器上。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电调的数量为4个。

7.一种计算电流采样芯片的系统增益的装置，所述电流采样芯片设置在电调上，所述电调上还设置有采样电阻，所述电流采样芯片与所述采样电阻电连接，其特征在于，所述电流采样芯片内部设置有第一放大电阻和第二放大电阻，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述采样电阻的电阻值r、所述第一放大电阻的电阻值R₁以及所述第二放大电阻的电阻值R₂；

系统增益计算模块，用于根据所述电阻值r、R₁和R₂计算所述电流采样芯片的系统增益K；

其中，所述系统增益计算模块计算所述系统增益K的计算公式如下：

其中，C为所述电流采样芯片的输入数字量，n为所述电流采样芯片的芯片位数，

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述芯片输入数字量C为所述电流采样芯片初始化时，在所述电流采样芯片的寄存器读取的输入数字量。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电调上还设置有第一分压电阻和第二分压电阻，所述第一分压电阻和所述第二分压电阻分别与所述采样芯片电连接。

10.根据权利要求7-9任一项所述的装置，其特征在于，所述电流采样芯片的系统增益K用于计算由所述电调控制的电机的采样电流，并用于进一步计算所述电机的转子的位置。

11.根据权利要求7-9任一项所述的装置，其特征在于，所述电调设置在无人飞行器上。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述电调的数量为4个。

13.一种非暂态计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一权利要求所述的计算电流采样芯片的系统增益的方法的步骤。

14.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6中任一权利要求所述的计算电流采样芯片的系统增益的方法的步骤。