[发明专利]陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，包括下述步骤：检测由所述陶瓷插芯轴孔处出射光斑所在的位置，并对所述光斑进行成像形成原始光斑图像；检测光斑不同位置处的光线强度，并将检测的光斑不同位置的光线强度与预设的光强衰减区间进行比对，确定不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置；以及将所述不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像，并求出所述校正光斑图像的圆心。通过检测出射光线的光强，由于出射光线形成的光斑边缘位置的变形部位，在原始光斑图像中消除变形部位形成校正光斑图像。

技术领域

本发明实施例涉及工业检测领域，尤其是一种陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法及装置。

背景技术

光纤陶瓷插芯，又称陶瓷插针体。光纤连接器插头中精密对中的圆柱体，中心有一微孔，用作固定光纤。它是一种由纳米氧化锆(ZrO2)材料经一系列配方、加工而成的高精度特种陶瓷元件。所制成的连接器是可拆卸、分类的光纤活动连接器，使光通道的连接、转换调度更加灵活，可供光通系统的调试与维护。

光纤陶瓷插芯的微孔用做固定光纤，所以工业上对于微孔的同轴度具有较高的精度要求，若微孔同轴度过低会造成光纤弯曲，使光纤内部的光线由于弯曲度而无法实现全反射造成能量损失。现有技术中，为检测光纤陶瓷插芯的同轴度采用的技术方案为：采用外设光源照射光纤陶瓷插芯的微孔，并在微孔另一端获取出射光线光斑的图像，采用图像处理方法获取该光斑的圆心，同时转动光纤陶瓷插芯使，求出不同转角对应的圆心位置，多个圆心位置对应的外接圆直径就是陶瓷插芯的同轴度误差。

本发明创造的发明人在研究中发现，由于，光纤陶瓷插芯的微孔的同轴度本身存在问题，出射光线在微孔内部已经发生了折射，致使投射出的光斑在边缘位置出现变形，采用变形光斑计算出的圆心本身具有误差，再用具有误差的圆心计算出的光纤陶瓷插芯同轴度误差必然不够真实，无法满足高精度光纤陶瓷插芯的微孔同轴度检测的需要。

发明内容

本发明实施例主要解决的技术问题是：提供一种陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，能够校正光线折射造成的光斑圆心误差，提高光纤陶瓷插芯同轴度检测精度。

为解决上述技术问题，本发明创造的实施例采用的一个技术方案是：提供一种陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，包括下述步骤：

检测由所述陶瓷插芯轴孔处出射光斑所在的位置，并对所述光斑进行成像形成原始光斑图像；

检测光斑不同位置处的光线强度，并将检测的光斑不同位置的光线强度与预设的光强衰减区间进行比对，确定不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置；以及

将所述不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像，并求出所述校正光斑图像的圆心。

进一步地，所述检测由所述陶瓷插芯轴孔处出射光斑所在的位置，并对所述光斑进行成像形成原始光斑图像，步骤包括：

获取光斑边缘位置的检测信号，以所述光斑边缘的检测信号构成第一光斑检测图像；

对所述光斑所在区域进行成像，形成第一光斑拍摄图形，并对所述第一光斑检测图像进行二值化处理；

将所述二值化处理后的第一光斑拍摄图像与所述第一光斑检测图像进行比对，将所述第一光斑拍摄图像中溢出所述第一光斑检测图像的部分进行裁剪形成原始光斑图像。

进一步地，所述检测光斑不同位置处的光线强度，并将检测的光斑不同位置的光线强度与预设的光强衰减区间进行比对，确定不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置，步骤包括：

检测所述光斑的边缘位置，获取边缘位置的光线强度；

将所述边缘位置的光线强度与预设的最低光强度阈值进行比对，确定边缘位置小于所述最低光强度阈值所在的位置。