[发明专利]陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法及装置

权利要求书

1.一种陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，包括下述步骤：

检测由所述陶瓷插芯轴孔处出射光斑所在的位置，并对所述光斑进行成像形成原始光斑图像；

检测光斑不同位置处的光线强度，并将检测的光斑不同位置的光线强度与预设的光强衰减区间进行比对，确定不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置；以及

将所述不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像，并求出所述校正光斑图像的圆心。

2.根据权利要求1所述的陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，所述检测由所述陶瓷插芯轴孔处出射光斑所在的位置，并对所述光斑进行成像形成原始光斑图像，步骤包括：

获取光斑边缘位置的检测信号，以所述光斑边缘的检测信号构成第一光斑检测图像；

对所述光斑所在区域进行成像，形成第一光斑拍摄图形，并对所述第一光斑检测图像进行二值化处理；

将所述二值化处理后的第一光斑拍摄图像与所述第一光斑检测图像进行比对，将所述第一光斑拍摄图像中溢出所述第一光斑检测图像的部分进行裁剪形成原始光斑图像。

3.根据权利要求2所述的陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，所述检测光斑不同位置处的光线强度，并将检测的光斑不同位置的光线强度与预设的光强衰减区间进行比对，确定不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置，步骤包括：

检测所述光斑的边缘位置，获取边缘位置的光线强度；

将所述边缘位置的光线强度与预设的最低光强度阈值进行比对，确定边缘位置小于所述最低光强度阈值所在的位置。

4.根据权利要求3所述的陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，所述将所述不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像，并求出所述校正光斑图像的圆心，步骤包括：

获取所述小于所述最低光强度阈值所在的位置的轮廓图，并对所述轮廓图内的像素进行反二值化处理；

将所述反二值化处理后的轮廓图与所述原始光斑图像进行叠加，并将所述小于所述最低光强度阈值所在的位置的轮廓图从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像后，求出所述校正光斑图像的圆心。

5.根据权利要求4所述的陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，所述将所述反二值化处理后的轮廓图与所述原始光斑图像进行叠加，并将所述小于所述最低光强度阈值所在的位置的轮廓图从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像后，求出所述校正光斑图像的圆心，步骤包括：

将所述反二值化处理后的轮廓图内的像素值与所述原始光斑图像内相同位置处的像素进行叠加，以在所述原始光斑图像中消除所述轮廓图所在的位置，形成校正光斑图像；

求出所述校正光斑图像的圆心。

6.根据权利要求5所述的陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，所述将所述反二值化处理后的轮廓图内的像素值与所述原始光斑图像内相同位置处的像素进行叠加，以在所述原始光斑图像中消除所述轮廓图所在的位置，形成校正光斑图像，步骤包括：

所述将所述反二值化处理后的轮廓图内的像素值与所述原始光斑图像内相同位置处的像素进行叠加；

将进行像素叠加后的原始光斑图像的像素进行二值化处理，形成所述校正光斑图像。

7.根据权利要求1所述的陶瓷插芯同轴度检测时光斑圆心确定方法，其特征在于，所述将所述不属于所述光强衰减区间内光线所在的位置从所述原始光斑图像中消除形成校正光斑图像，并求出所述校正光斑图像的圆心，步骤之后包括：

检测所述校正光斑图像的圆心是否位于所述光斑中最强光线所在的区域；

当所述校正光斑图像的圆心不位于所述光斑中最强光线所在的区域时，重新确定所述校正光斑图像。