[发明专利]功率电子开关装置、其布置结构及制造开关装置的方法在审
| 申请号: | 201710599548.6 | 申请日: | 2017-07-21 |
| 公开(公告)号: | CN107644818A | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
| 发明(设计)人: | 哈拉尔德·科波拉;约尔格·阿蒙 | 申请(专利权)人: | 赛米控电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603;H01L23/40;H01L23/48;H01L25/07 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 韩峰,孙志湧 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 功率 电子 开关 装置 布置 结构 制造 方法 | ||
1.一种功率电子开关装置(1),其包括基底(2)、包括连接装置(3)、以及包括压力装置(5),
其中,所述基底(2)具有彼此电绝缘的导体轨道(22),并且功率半导体组件(7)以其第一主表面(70)来被布置在所述导体轨道(22)中的一个上,并且所述功率半导体组件(7)被导电地连接到该导体轨道(22),
其中,所述连接装置(3)被构造为包括导电膜(30、34)和电绝缘膜(32)在内的膜复合物并且由此形成第一主表面和第二主表面(300、340),
其中,所述开关装置借助所述连接装置(3)以符合电路的方式来被连接在内部,并且在此情形下,所述功率半导体组件(7)的所述第二主表面(72)的接触区域(720)以强制锁定且导电的方式来被连接至所述连接装置(3)的所述第一主表面(300)的第一接触区域(304),为此,所述压力装置(5)具有压力体(50)以及在所述功率半导体组件(7)的方向上从所述压力体(50)突出的压力元件(52),
其中,所述压力元件(52)压到所述膜复合物(3)的所述第二主表面(340)的第一区段(344)上,并且在此情形下,所述第一区段(344)被布置成在所述功率半导体组件(7)的区域(74)内沿着所述功率半导体组件(7)的法线(N)的方向突出。
2.根据权利要求1所述的开关装置,其中,
所述连接装置的第二接触区域(308)以强制锁定或粘聚的方式并且以导电的方式被连接到所述基底(2)的所指配的导体轨道(22)的接触区域(222)。
3.根据权利要求1或2所述的开关装置,其中,
所述功率半导体组件(7)以强制锁定或粘聚的方式通过其第一主表面(70)来被连接至所指配的导体轨道(22)。
4.根据权利要求1或2所述的开关装置,其中,
所述压力体(50)具有第一切口(500),所述压力元件(52)从所述第一切口突出。
5.根据权利要求4所述的开关装置,其中,
所述压力体(50)的所述第一切口(500)被构造为从第一主表面(502)起始的凹陷部,
所述压力元件(52)完全地或近似完全地填充所述压力体(50)的所述切口(500),并且
所述压力元件(52)在所述压力体的所述第一主表面(502)从所述压力体的所述切口(500)突出。
6.根据权利要求1或2所述的开关装置,其中,
所述压力体(52)的横向广度(544)与垂直广度(520)的比率具有大于2比1的比率,特别是具有大于4比1的比率。
7.根据权利要求1或2所述的开关装置,其中,
所述压力体(50)由耐高温的热塑性塑料组成,特别是由聚苯硫醚组成,并且
所述压力元件(52)由弹性体组成,优选地由硅酮弹性体组成,特别是由交联的液态硅酮组成。
8.根据权利要求1或2所述的开关装置,其中,
所述第一区段(344)的表面面积具有所指配的功率半导体组件(7)的区域(74)的至少20%,特别是至少50%。
9.根据权利要求1或2所述的开关装置,其中,
各个所述粘聚的连接被构造为焊接的、粘接的或压力烧结的连接。
10.一种包括根据权利要求1-9中的任一项所述的电子开关装置(1)的布置结构(100),其包括冷却装置(4)并且包括压力引入装置(6),其中,
所述压力引入装置(6)以间接地或直接地紧靠所述冷却装置(8)的方式来被支撑,并且将压力优选以集中的方式引入到所述压力装置(5)上,并且所述开关装置(1)由此以强制锁定的方式来被连接至所述冷却装置(4)。
11.根据权利要求10所述的布置结构,其中,
在所述基底(2)与所述冷却装置(4)之间布置导热层(40),所述导热层(40)具有小于20μm,特别是小于10μm,特别是小于5μm的厚度。
12.根据权利要求10或者11所述的布置结构,其中,
所述冷却装置(4)优选地是功率半导体模块的金属基础板或热沉。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛米控电子股份有限公司,未经赛米控电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710599548.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种钢铁储能装置
- 下一篇:一种多并联智能抄表光电转换器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





