[发明专利]位移检测装置在审
申请号: | 201710593112.6 | 申请日: | 2017-07-20 |
公开(公告)号: | CN107643041A | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 吉谷拓海 | 申请(专利权)人: | 梅莱克塞斯技术股份有限公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位移 检测 装置 | ||
1.一种位移检测装置,具有:
磁铁,其在一个方向进行位移且为棒状,并具有长度方向与所述一个方向成预定角度的形状;以及
传感器,其以预定间隔成对地配置磁检测元件组,该传感器输出该磁检测元件组的输出之差,该磁检测元件组在与所述一个方向正交的方向上对所述磁铁形成的磁场的磁通密度进行检测。
2.如权利要求1所述的位移检测装置,其中,
所述传感器的所述磁检测元件组中包含的磁检测元件的敏感方向为与所述一个方向正交的第一方向,所述传感器具有磁集中器,该磁集中器将与所述一个方向及所述第一方向正交的第二方向的磁通变换成所述第一方向的磁通。
3.如权利要求2所述的位移检测装置,其中,
所述传感器将所述磁检测元件组中包含的磁检测元件的输出相加来检测所述第一方向的磁通密度,通过取得所述磁检测元件组中包含的磁检测元件的输出之差来检测所述第二方向的磁通密度。
4.如权利要求1至3中任一项所述的位移检测装置,其中,
所述磁铁的磁化方向为与所述一个方向正交的方向。
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