[发明专利]一种优化的PCIE设备热插拔下电方法在审
申请号: | 201710590035.9 | 申请日: | 2017-07-19 |
公开(公告)号: | CN107357754A | 公开(公告)日: | 2017-11-17 |
发明(设计)人: | 上官宇剑 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F13/40 | 分类号: | G06F13/40 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司37105 | 代理人: | 王汝银 |
地址: | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 优化 pcie 设备 拔下 方法 | ||
1.一种优化的PCIE设备热插拔下电方法,其特征是,具体包括以下步骤:
对RC端或SW端的接收器在位侦测状态寄存器值进行判断;
如果是期望值,则EP设备已正常走完下电流程;否则,则对RC或SW的端口控制寄存器操作,继续进行在位侦测状态寄存器值判断;
如果控制寄存器操作多次后,在位侦测状态寄存器值还不是期望值,则表示EP设备故障,并打印故障信息。
2.根据权利要求1所述的一种优化的PCIE设备热插拔下电方法,其特征是,对在位侦测状态寄存器值进行判断具体为:PCIE驱动判断接收器在位侦测状态寄存器的各个位的数值。
3.根据权利要求2所述的一种优化的PCIE设备热插拔下电方法,其特征是,所述的期望值为寄存器各个位数值全部为零。
4.根据权利要求1所述的一种优化的PCIE设备热插拔下电方法,其特征是,控制寄存器操作的具体方法包括:PCIE驱动对RC或SW的端口控制寄存器非期望值端口先进行禁止操作,再进行使能操作,使得在位状态寄存器状态被更新。
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