[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板在审

专利信息
申请号: 201710538292.8 申请日: 2017-07-04
公开(公告)号: CN107180876A 公开(公告)日: 2017-09-19
发明(设计)人: 包智颖;王世君;薛艳娜;白璐 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336;H01L27/12
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法 阵列
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板。

背景技术

目前,随着显示技术的快速发展,显示屏幕的分辨率(Pixels Per Inch,简称PPI)越来越高,像素的间距(Pitch)越来越小,导致像素开口率(Aperture Ratio,简称AR)降低,因而提高高PPI显示产品的像素开口率是目前显示产品发展的方向之一。

图1(a)和图1(b)为现有技术提供的TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)的结构示意图,图1(a)和图1(b)以底栅型薄膜晶体管为例,现有技术中TFT的漏极(Drain)50和源极60设置在同一层,由于TFT行业中曝光设备精度普遍较低,因而源极60和漏极50之间的距离很难减小,从而使得TFT的沟道长度L无法进一步减小,因而TFT的像素开口率无法进一步提升。此外,随着显示产品的分辨率越来越高,每一行像素的充电时间越来越少,为了满足产品的充电率需求,需要提高TFT的W/L,由于TFT沟道长度L无法进一步减小,因而只能增加TFT的宽度W,这样又会严重影响像素开口率。

发明内容

本发明的实施例提供一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板,可提高薄膜晶体管的W/L,提高像素开口率。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

第一方面,提供一种薄膜晶体管,包括依次层叠设置的栅极、栅绝缘层、第一电极、有源层和第二电极;所述第一电极和所述第二电极均与所述有源层接触;其中,所述有源层中部分与所述栅绝缘层接触,且所述栅绝缘层中与所述有源层接触部分还与所述栅极接触。

优选的,所述栅极包括多个子栅极,所述第一电极包括至少一个第一子电极;所述第一子电极设置在相邻所述子栅极之间。

优选的,所述有源层包括至少一个子有源层;所述子有源层设置在所述第一子电极上,且位于相邻所述子栅极之间。

优选的,所述有源层包括多个所述子有源层,所述子有源层之间相互电连接。

进一步优选的,相邻所述子有源层绕过所述子栅极上方电连接;所述第一电极包括多个所述第一子电极,所述第一子电极绕过所述子栅极上方电连接。

优选的,所述有源层包括非晶硅层和设置在非晶硅层两侧的N型掺杂层,所述N型掺杂层分别与所述第一电极和所述第二电极接触。

第二方面,提供一种阵列基板,包括上述的薄膜晶体管、像素电极和数据线;所述薄膜晶体管的第一电极与像素电极电连接,第二电极与所述数据线电连接;或者,所述第一电极与所述数据线电连接,所述第二电极与所述像素电极电连接。

优选的,沿所述薄膜晶体管的层叠方向,所述数据线与所述薄膜晶体管具有重叠区域。

第三方面,提供一种薄膜晶体管的制备方法,包括:在衬底基板上形成栅极;在所述栅极上形成栅绝缘层;在所述栅绝缘层上形成第一电极;在所述第一电极上形成有源层,其中,所述有源层中部分与所述栅绝缘层接触,且所述栅绝缘层中与所述有源层接触部分还与所述栅极接触;在所述有源层上形成第二电极。

优选的,形成栅极,具体包括:利用纳米压印法形成多个子栅极,多个所述子栅极构成栅极;所述第一电极包括至少一个第一子电极,在所述栅绝缘层上形成第一电极,具体包括:在相邻所述子栅极之间形成第一子电极;所述有源层包括至少一个子有源层,在所述第一电极上形成有源层,具体包括:在所述第一子电极上形成所述子有源层。

本发明实施例提供一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板,相对于现有技术中第一电极和第二电极同层设置,本发明实施例薄膜晶体管的第一电极、有源层和第二电极层叠设置,由于薄膜晶体管的沟道长度L为第一电极和第二电极之间的距离,因而本发明实施例薄膜晶体管的沟道长度L即为有源层的厚度,而有源层的厚度很容易制作的比较薄,从而沟道长度L易于减小,这样便可以减小薄膜晶体管的面积,提升像素开口率。此外,沟道长度L减小,W/L便会增大,因而薄膜晶体管的开态电流Ion增大,充电率提高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1(a)为现有技术提供的一种薄膜晶体管的结构示意图;

图1(b)为现有技术提供的一种薄膜晶体管的俯视结构示意图;

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