[发明专利]管式PERC太阳能电池的修复工艺及制备工艺有效
申请号: | 201710532627.5 | 申请日: | 2017-07-03 |
公开(公告)号: | CN107331730B | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
发明(设计)人: | 方结彬;夏利鹏;林纲正;赖俊文;何达能;陈刚 | 申请(专利权)人: | 浙江爱旭太阳能科技有限公司;广东爱旭科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/02;H01L21/268;H01L21/673;H01L21/677;H01L31/0216 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫 |
地址: | 322009 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | perc 太阳能电池 修复 工艺 制备 | ||
1.一种管式PERC太阳能电池的修复工艺,其特征在于,所述修复工艺设置在硅片退火之后,硅片背面镀膜之前,所述修复工艺包括:
(1)将扩散、刻蚀、退火后,镀膜前停留时间超过4小时的半成品硅片置入修复炉,所述修复炉包括炉外腔,旋转内腔和中心固定机构,中心固定机构上设置有红外灯和喷气管,旋转内腔上设置有放置硅片的卡槽和连通炉外腔的通孔,所述喷气管通入流量为5-10slm的氮气实现自洁,所述氮气的通入时间为1-5min;
(2)通入流量为5-20slm的氮气,用于吹扫硅片上的灰尘;
(3)将修复炉从室温升温到500-650℃,升温时间为5-20min,同时通入流量为1-5slm的氮气;
(4)将修复炉在500-650℃恒温5-30min,同时通入流量为5-20slm的氮气。
2.如权利要求1所述管式PERC太阳能电池的修复工艺,其特征在于,所述修复工艺包括:
(1)将退火后镀膜前停留时间超过4小时的半成品硅片置入修复炉,所述修复炉包括炉外腔,旋转内腔和中心固定机构,中心固定机构上设置有红外灯和喷气管,旋转内腔上设置有放置硅片的卡槽和连通炉外腔的通孔,所述喷气管通入流量为6-8slm的氮气实现自洁,所述氮气的通入时间为2-4min;
(2)通入流量为5-20slm的氮气,用于吹扫硅片上的灰尘;
(3)将修复炉从室温升温到550-650℃,升温时间为5-20min,同时通入流量为2-4slm的氮气;
(4)将修复炉在550-650℃恒温10-20min,同时通入流量为8-15slm的氮气。
3.如权利要求1-2任一项所述管式PERC太阳能电池的修复工艺,其特征在于,所述硅片退火包括以下步骤:
对硅片进行退火,退火温度为700-820℃,氮气流量为1-15L/min,氧气流量为0.1-6L/min。
4.如权利要求1-2任一项所述管式PERC太阳能电池的修复工艺,其特征在于,所述硅片背面镀膜采用管式PECVD设备进行,包括以下步骤:
采用TMA与N2O沉积三氧化二铝膜,TMA的气体流量为250-500sccm,TMA与N2O的比例为1/15-25,等离子功率为2000-5000w;
采用硅烷、氨气和笑气沉积氮氧化硅膜,硅烷的气体流量为50-200sccm,硅烷与笑气的比例为1/10-80,氨气的流量为0.1-5slm,等离子功率为4000-6000w;
采用硅烷和氨气沉积氮化硅膜,硅烷的气体流量为500-1000sccm,硅烷与氨气的比例为1/6-15,氮化硅的沉积温度为390-410℃,时间为100-500s,等离子功率为10000-13000w;
采用笑气沉积二氧化硅膜,笑气的流量为0.1-5slm,等离子功率为2000-5000w。
5.如权利要求4所述管式PERC太阳能电池的修复工艺,其特征在于,所述硅片背面镀膜采用管式PECVD设备进行,包括以下步骤:
采用TMA与N2O沉积三氧化二铝膜,TMA的气体流量为250-500sccm,TMA与N2O的比例为1/15-25,三氧化二铝膜的沉积温度为250-300℃,时间为50-300s,等离子功率为2000-5000w;
采用硅烷、氨气和笑气沉积氮氧化硅膜,硅烷的气体流量为50-200sccm,硅烷与笑气的比例为1/10-80,氨气的流量为0.1-5slm,氮氧化硅膜的沉积温度为350-410℃,时间为50-200s,等离子功率为4000-6000w;
采用硅烷和氨气沉积氮化硅膜,硅烷的气体流量为500-1000sccm,硅烷与氨气的比例为1/6-15,氮化硅膜的沉积温度为390-410℃,时间为100-400s,等离子功率为10000-13000w;
采用笑气沉积二氧化硅膜,笑气的流量为0.1-5slm,等离子功率为2000-5000w。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的