[发明专利]内嵌式触摸屏测试电路

说明书

本发明提供一种内嵌式触控屏测试电路，包括：级联的多个扫描电路；所述扫描电路至少包括：一测试信号输入端，一测试信号输出端，通过第一信号线对应连接一所述触控电极，用以将测试信号输入至相应的所述触控电极；以及一短路反馈端，通过第二信号线连接上一级的所述扫描电路的测试信号输出端所连接的所述触控电极；有益效果：触控电极与其他触控电极短路后，短路触控电极连接的信号线，与被短路触控电极连接的信号线以及相关扫描电路形成回路，进而拉低短路触控电极的电压，使短路触控电极对应的显示区亮度暗于其他区域，从而可区分出短路触控电极的位置。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种内嵌式触摸屏测试电路。

背景技术

内嵌式触摸屏在压合驱动芯片以及柔性电路板之前，会对触摸屏进行线路通路短路测试，以防止线路有问题的触摸屏被压合驱动芯片及柔性电路板，从而造成物料浪费。

如图1所示，内嵌式触摸屏包括触控阵列、及位于触控阵列上部的显示阵列(图中未示出)，触控阵列形成与阵列基板101上，显示阵列包括若干垂直相交的扫描线与数据线，扫描线与数据线形成若干像素单元。

现有的触摸屏触控线路测试，采用类似棋盘格的测试方法，面板中的触控阵列包括若干方块形的触控电极每一个触控电极通过一条金属线连接一个薄膜晶体管104；为了方便说明,将各触控电极分为奇型触控电极102与偶型触控电极103，奇型触控电极102与偶型触控电极103呈棋盘格方式排列；其中，各触控电极与相对应的薄膜晶体管104的漏极连接，各触控电极对应连接的薄膜晶体管104的栅极连接SW(控制信号线)，各偶型触控电极103对应连接的薄膜晶体管104的源极连接TP1(第一测试信号线)，各奇型触控电极102对应连接的薄膜晶体管104的源极连接TP2(第二测试信号线)。

测试时，SW信号线给高电平，使SW信号线控制的薄膜晶体管104导通；TP1信号线和TP2信号线分别给不同电压，例如，TP1给0V电压，TP2给±5V电压；数据线全部给0V电压；由于触控阵列的触控电极是显示阵列的公共电极，当偶型触控电极103和奇型触控电极102的电压不一样时，则偶型触控电极103和奇型触控电极102对应的区域显示亮度会有差异。正常的显示亮度差异是奇型触控电极102对应的区域比较亮(TP2电压高)，偶型触控电极103对应的区域比较暗(TP1电压低)；从而通过判断显示亮度差异是否正常来判断触控电极是否正常导通。

但是，现有技术的内嵌式触控屏的触控线路测试方法，当偶型触控电极103和偶型触控电极103发生短路时，无法被检测出，同样的奇型触控电极102和奇型触控电极102之间发生短路也无法被测出；进而增加了触控屏存在触控缺陷的风险。

发明内容

本发明提供一种内嵌式触摸屏测试电路，能够检测出触控电极的信号线之间的短路缺陷，以解决现有的内嵌式触控屏的触控线路测试方法，当偶型触控电极和偶型触控电极发生短路，或者奇型触控电极和奇型触控电极之间发生短路，无法被检测出；进而增加了触控屏存在触控缺陷的风险的技术问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种内嵌式触控屏测试电路，所述测试电路连接有触控电极阵列，所述触控电极阵列连接显示阵列；

所述测试电路包括：级联的多个扫描电路，各级所述扫描电路对应连接一所述触控电极；

所述扫描电路至少包括：

一测试信号输入端，用以接入测试信号源；

一测试信号输出端，通过第一信号线对应连接一所述触控电极，用以将测试信号输入至相应的所述触控电极；以及：

一短路反馈端，通过第二信号线连接上一级的所述扫描电路的测试信号输出端所连接的所述触控电极；