[发明专利]内嵌式触摸屏测试电路

权利要求书

1.内嵌式触控屏测试电路，所述测试电路连接有触控电极阵列，所述触控电极阵列连接显示阵列；

所述测试电路包括：级联的多个扫描电路，各级所述扫描电路对应连接一所述触控电极；

所述扫描电路至少包括：

一测试信号输入端，用以接入测试信号源；

一测试信号输出端，通过第一信号线对应连接一所述触控电极，用以将测试信号输入至相应的所述触控电极；

其特征在于，所述测试电路还包括一短路反馈端，通过第二信号线连接上一级的所述扫描电路的测试信号输出端所连接的所述触控电极；

当本级的所述扫描电路的测试信号输出端连接的所述触控电极，与上一级的所述扫描电路的测试信号输出端连接的所述触控电极之间短路，则所述第一信号线、所述第二信号线以及本级的所述扫描电路之间形成回路，使得本级的所述扫描电路的测试信号输出端连接的所述触控电极的电压值降低，对应的显示区的亮度较暗。

2.根据权利要求1所述的内嵌式触控屏测试电路，其特征在于，各所述扫描电路的测试信号输出端，依序循环向对应的所述触控电极通入高电平信号，当一所述触控电极通入高电平信号时，其余各所述触控电极通入低电平信号。

3.根据权利要求2所述的内嵌式触控屏测试电路，其特征在于，所述显示阵列包括若干扫描线及若干数据线，所述扫描线与所述数据线垂直相交形成若干像素单元，每一所述像素单元包括一像素电极以及一薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括有栅极、源极以及漏极，所述薄膜晶体管的栅极连接相应的所述扫描线，所述薄膜晶体管的漏极连接相应的所述像素电极，所述薄膜晶体管的源极连接相应的所述数据线；其中，

在进行触控电极通路测试时，所述数据线向所述像素单元通入0V电压。

4.根据权利要求3所述的内嵌式触控屏测试电路，其特征在于，所述扫描电路的测试信号输出端输出高电平信号或低电平信号，所述高电平信号与所述数据线输出信号的压差，与所述低电平信号与所述数据线输出信号的压差的绝对值相等。

5.内嵌式触控屏测试电路，所述测试电路连接有触控电极阵列，所述触控电极阵列连接显示阵列；

所述测试电路包括：级联的多个扫描电路，各级所述扫描电路对应连接一行所述触控电极；

所述扫描电路至少包括：

一测试信号输入端，用以接入测试信号源；

一测试信号输出端，所述测试信号输出端连接一第一信号线，位于同一行的各所述触控电极分别通过一第二信号线连接于所述第一信号线；用以将测试信号输入至相应的所述触控电极；

其特征在于，本级的所述扫描电路连接的一所述触控电极为第一触控电极，上一级的所述扫描电路连接的一所述触控电极为第二触控电极，当所述第一触控电极与所述第二触控电极发生短路，则所述第一触控电极连接的所述第二信号线、所述第二触控电极连接的所述第二信号线、上一级的所述扫描电路、本级的所述扫描电路以及本级的所述扫描电路连接的所述第一信号线之间形成回路，使得所述第一触控电极的电压值降低，对应的显示区的亮度较暗。

6.根据权利要求5所述的内嵌式触控屏测试电路，其特征在于，各所述扫描电路的测试信号输出端，依序循环向对应的所述触控电极通入高电平信号，当一所述触控电极通入高电平信号时，其余各所述触控电极通入低电平信号。

7.根据权利要求6所述的内嵌式触控屏测试电路，其特征在于，所述显示阵列包括若干扫描线及若干数据线，所述扫描线与所述数据线垂直相交形成若干像素单元，每一所述像素单元包括一像素电极以及一薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括有栅极、源极以及漏极，所述薄膜晶体管的栅极连接相应的所述扫描线，所述薄膜晶体管的漏极连接相应的所述像素电极，所述薄膜晶体管的源极连接相应的所述数据线；其中，

在进行触控电极通路测试时，所述数据线向所述像素单元通入0V电压。

8.根据权利要求7所述的内嵌式触控屏测试电路，其特征在于，所述扫描电路的测试信号输出端输出高电平信号或低电平信号，所述高电平信号与所述数据线输出信号的压差，与所述低电平信号与所述数据线输出信号的压差的绝对值相等。