[发明专利]一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置。

背景技术

随着国产处理器的技术进步与行业发展加速，目前涉及国产处理器的设计研发厂商越来越多。由于国产处理器的架构与X86架构的处理器存在较大差异，国产处理器平台在内存子系统方面无法像X86平台一样做到即插即用，在硬件调试完成后，需要进行内存参数的调整工作，并将调整后的内存参数写入固件中，才能使内存子系统正常工作。

现有技术中，在进行内存参数的调整适配时，需要通过人工来实现，实现过程比较复杂。

发明内容

本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置，能够更加简单地调整内存参数。

一方面，本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法，包括：

预先设置内存参数的调整规则；

S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；

S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；

S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；

S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

进一步地，

当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

进一步地，

当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

进一步地，

当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时，执行：

A1：所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；

A2：当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息；