[发明专利]一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置在审
申请号: | 201710480713.6 | 申请日: | 2017-06-22 |
公开(公告)号: | CN107301103A | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 张雁鹏;于晓艳 | 申请(专利权)人: | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 |
代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人: | 李世喆 |
地址: | 250100 山东省济南市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 调整 国产 处理器 内存 参数 方法 装置 | ||
1.一种调整国产处理器的内存参数的方法,其特征在于,包括:
预先设置内存参数的调整规则;
S1:部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息,其中,所述待调试设备按照当前内存参数运行;
S2:所述调试端根据所述待调试信息,向所述调试模块发送内存参数调试指令;
S3:所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后,根据所述内存参数调试指令,获取所述待调试设备的所述当前内存参数,将所述当前内存参数发送给所述调试端;
S4:所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常,如果是,根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理,生成调整后的内存参数,将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块;
S5:所述调试模块接收所述调整后的内存参数,将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数,重新启动所述待调试设备,返回步骤S1。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
当所述内存参数为内存阻抗时,
所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令;
所述当前内存参数为当前内存阻抗;
所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则;
所述S3,包括:
所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后,根据所述内存阻抗调试指令,获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗,将所述当前内存阻抗发送给所述调试端;
所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后,进一步包括:
对所述待调试设备的内存进行读写测试,确定读写测试的当前第一测试结果,将所述当前第一测试结果发送给所述调试端;
所述S4,包括:
所述调试端根据所述当前第一测试结果,判断所述当前内存阻抗是否存在异常,如果是,则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理,生成调整后的内存阻抗,将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块;
所述S5,包括:
所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗,将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗,重新启动所述待调试设备,返回步骤S1。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
当所述内存参数为内存电压时,
所述内存参数调试指令为内存电压调试指令;
所述当前内存参数为当前内存电压;
所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则;
所述S3,包括:
所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后,根据所述内存电压调试指令,获取所述待调试设备的所述当前内存电压,将所述当前内存电压发送给所述调试端;
所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后,进一步包括:
对所述待调试设备的内存进行读写测试,确定读写测试的当前第二测试结果,将所述当前第二测试结果发送给所述调试端;
所述S4,包括:
所述调试端根据所述当前第二测试结果,判断所述当前内存电压是否存在异常,如果是,则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理,生成调整后的内存电压,将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块;
所述S5,包括:
所述调试模块接收所述调整后的内存电压,将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压,重新启动所述待调试设备,返回步骤S1。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时,执行:
A1:所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令,以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统;
A2:当所述待调试设备成功进入所述操作系统时,所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息;
A3:所述调试端在接收到所述系统启动成功的信息时,判断系统启动成功的次数是否为预设值,如果是,则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件,否则,执行A1。
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