[发明专利]外推法测雷达散射截面积有效
| 申请号: | 201710470620.5 | 申请日: | 2017-06-20 |
| 公开(公告)号: | CN107192990B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
| 发明(设计)人: | 崔孝海;袁文泽;李勇;魏广宇;高小珣 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
| 地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 散射 被测目标 发射源 雷达 电磁波 测量位置 辐射功率 距离变化 空间辐射 面积测量 外推法 准确度 被测位置 无穷远 正对 对准 测量 | ||
1.一种外推法测雷达散射截面积的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:对发射源与被测目标体的位置进行对准,以使所述发射源正对所述被测目标体的被测位置,其中,所述发射源和所述被测目标体均设置在微波暗室中;
S2:在所述发射源远离所述被测目标体的过程中,对应获取在多个测量位置下所述发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度;
S3:根据所述多个测量位置下所述发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度,得到所述被测目标体的雷达散射截面积随所述发射源和所述被测目标体之间的距离的变化而变化的雷达散射截面积测量曲线;
S4:根据所述雷达散射截面积测量曲线得到所述被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数;
S5:对所述雷达散射截面积随距离变化的函数求距离无穷远极限,得到所述被测目标体的雷达散射截面积。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S2进一步包括:
对所述每个测量位置进行多次测量,对测量数据进行相参积累得到所述每个测量位置的所述发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S4进一步包括:
对所述雷达散射截面积测量曲线进行平滑处理,并采用多项式拟合的方式得到被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述被测目标体为非球面体时,还包括:
改变所述发射源和所述被测目标体之间的夹角并测量被测目标体的雷达散射截面积,以得到所述发射源和所述被测目标体之间不同的夹角对应的所述被测目标体的雷达散射截面积。
5.根据权利要求1或4所述的方法,其特征在于,使用矢量网络分析仪将激光对准装置连接发射源的波导口面,并使用所述激光对准装置检测所述发射源与所述被测目标体之间是否对准。
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