[发明专利]外推法测雷达散射截面积有效
| 申请号: | 201710470620.5 | 申请日: | 2017-06-20 |
| 公开(公告)号: | CN107192990B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
| 发明(设计)人: | 崔孝海;袁文泽;李勇;魏广宇;高小珣 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
| 地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 散射 被测目标 发射源 雷达 电磁波 测量位置 辐射功率 距离变化 空间辐射 面积测量 外推法 准确度 被测位置 无穷远 正对 对准 测量 | ||
本发明公开了一种外推法测雷达散射截面积的方法,包括:对发射源与被测目标体的位置进行对准,以使发射源正对被测目标体的被测位置;在发射源远离被测目标体的过程中,对应获取在多个测量位置下发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度;根据多个测量位置下发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度得到发射源和被测目标体随距离变化的雷达散射截面积测量曲线;根据雷达散射截面积测量曲线得到被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数;对函数求距离无穷远极限,得到被测目标体的雷达散射截面积。本发明具有如下优点:测量准确度高、适用范围广。
技术领域
本发明涉及雷达技术领域,具体涉及一种外推法测雷达散射截面积。
背景技术
当前的雷达散射截面积(RCS)测量方法是通过球体对整个测试系统进行校准(或称“标定”,“定标”),通过先后将球体和被测目标在测试场中进行RCS测量值的比较,得到被测目标的RCS值,球体的RCS值是由理论计算得到(金属球:Pi*r^2,r为球体半径)。用球体标定RCS测量系统的缺点是,由于球体在所有观测方向上都是球体,360度转动RCS没有变化,从而缺少对RCS测量系统的方位角、俯仰角的校准信息。此外,球体对所接收到的电磁波反射小,从而使测量信号的信号噪声比(SNR)和信号杂波比(SCR)低,会造成标定后的RCS测量系统的测量灵敏度低,测量结果不确定度大。
如果采用带有角度RCS信息的其他反射体对RCS测量系统进行校准,必须首先知道该反射体的RCS量值,目前不能得到准确的复杂几何体的RCS量值。
发明内容
本发明旨在至少解决上述技术问题之一。
为此,本发明的目的在于提出一种外推法测雷达散射截面积的方法,可以提升RCS测量的准确性。
为了实现上述目的,本发明的实施例公开了一种外推法测雷达散射截面积的方法,包括以下步骤:S1:对发射源与被测目标体的位置进行对准,以使所述发射源正对所述被测目标体的被测位置,其中,所述发射源和所述被测目标体均设置在微波暗室中;S2:在所述发射源远离所述被测目标体的过程中,对应获取在多个测量位置下所述发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度;S3:根据所述多个测量位置下所述发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度,得到所述发射源和所述被测目标体随距离变化的雷达散射截面积测量曲线;S4:根据所述雷达散射截面积测量曲线得到所述被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数;S5:对所述雷达散射截面积随距离变化的函数求距离无穷远极限,得到所述被测目标体的雷达散射截面积。
进一步地,步骤S2进一步包括:对所述每个测量位置进行多次测量,对测量数据进行相参积累得到所述每个测量位置的所述发射源的辐射功率或电磁波幅度,以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度。
进一步地,步骤S4进一步包括:对所述雷达散射截面积测量曲线进行平滑处理,并采用多项式拟合的方式得到被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数。
进一步地,当所述被测目标体为非球面体时,还包括:改变所述发射源和所述被测目标体之间的夹角并测量被测目标体的雷达散射截面积,以得到所述发射源和所述被测目标体之间的在不同夹角下所述被测目标体的雷达散射截面积。
进一步地,使用矢量网络分析仪将激光对准装置连接发射源的波导口面,并使用所述激光对准装置检测所述发射源与所述被测目标体之间的是否对准。
根据本发明实施例的外推法测雷达散射截面积的方法与现有技术相比具有如下优点:
测量准确,可以使目前国内RCS测量准确度提升5倍以上,本发明第二个优点是测量结果信息全面,可以准确测量得到被测目标在不同方位角,不同俯仰角下的RCS量值;
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