[发明专利]一种显示面板的测试电路及测试方法

说明书

本发明公开了一种显示面板的测试电路及测试方法，该测试电路包括：多个开关单元；多条第一测试引线；多个第一测试垫；第二测试垫、第二测试引线、第三测试垫和开关控制线；其中，每一显示面板对应一开关单元、一第一测试引线以及一第一测试垫；且每一第一测试引线与对应的显示面板电连接；每一第一测试垫与对应开关单元的输出端以及对应的第一测试引线电连接；第二测试垫和第二测试引线均与多个开关单元的输入端电连接；第三测试垫和开关控制线均与多个开关单元的控制端电连接。本发明提供的显示面板的测试电路及测试方法，实现了在进行阵列测试时分别对每个显示面板进行测试，在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板内形成预倾角。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板的测试电路及测试方法。

背景技术

制作显示面板的过程中需要对显示面板液晶分子取向，其过程可以采用如下步骤：在阵列基板和彩膜基板之间施加一电压或电流信号，阵列基板和/或彩膜基板上具有配向膜，配向膜在上述电压或电流作用下形成聚合物凸起，从而形成预倾角，预倾角能够使位于阵列基板和彩膜基板之间的液晶分子按照特定方向排列，进而提高显示面板的显示品质。

在进行液晶分子取向时，每个显示面板都需要一个单独的引线以及与该引线相连接的焊盘。这样就造成线路繁多，现有的一种解决方式是将一条引线连接多个显示面板。

但是采用将一条引线连接多个显示面板的方式存在如下问题：在对显示面板进行阵列测试时，多个显示面板之间由于由一条引线相连接因而存在测试信号干扰的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板的测试电路及测试方法，以实现在进行阵列测试时分别对每个显示面板进行测试，在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板进行测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的测试电路，包括：

多个开关单元；

多条第一测试引线；

多个第一测试垫；

第二测试垫、第二测试引线、第三测试垫和开关控制线；

其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接；所述第三测试垫和所述开关控制线均与多个所述开关单元的控制端电连接。

可选地，所述开关单元为三极管。

可选地，所述测试电路还包括多个第四测试垫，每一所述显示面板对应一所述第四测试垫，且每一所述第四测试垫与所述三极管的控制端电连接；

所述第一测试垫和所述第四测试垫相邻设置。

可选地，所述第二测试垫和所述第三测试垫相邻设置。

可选地，所述三极管为N型薄膜晶体管。

可选地，所述多个第一测试垫沿所述第二测试引线的延伸方向阵列排布。

可选地，所述第二测试引线和所述开关控制线平行设置。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，所述显示面板的测试电路包括：

多个开关单元；

多条第一测试引线；

多个第一测试垫；

第二测试垫、第二测试引线、第三测试垫和开关控制线；