[发明专利]一种显示面板的测试电路及测试方法有效
| 申请号: | 201710470335.3 | 申请日: | 2017-06-20 |
| 公开(公告)号: | CN107068029B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
| 发明(设计)人: | 陈猷仁 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司: | 11332 北京品源专利代理有限公司 | 代理人: | 孟金喆<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址: | 518108 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 显示 面板 测试 电路 方法 | ||
1.一种显示面板的测试电路,其特征在于,包括:
多个开关单元;
多条第一测试引线;
多个第一测试垫;
第二测试垫、第二测试引线、第三测试垫和开关控制线;
其中,每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫;且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接;每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接;所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接;所述第三测试垫和所述开关控制线均与多个所述开关单元的控制端电连接。
2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述开关单元为三极管。
3.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括多个第四测试垫,每一所述显示面板对应一所述第四测试垫,且每一所述第四测试垫与所述三极管的控制端电连接;
所述第一测试垫和所述第四测试垫相邻设置。
4.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述第二测试垫和所述第三测试垫相邻设置。
5.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述三极管为N型薄膜晶体管。
6.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述多个第一测试垫沿所述第二测试引线的延伸方向阵列排布。
7.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第二测试引线和所述开关控制线平行设置。
8.一种显示面板的测试方法,其特征在于,所述显示面板的测试电路包括:多个开关单元;
多条第一测试引线;
多个第一测试垫;
第二测试垫、第二测试引线、第三测试垫和开关控制线;
其中,每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫;且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接;每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接;所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接;所述第三测试垫和所述开关控制线均与多个所述开关单元的控制端电连接;
所述方法包括:
在对所述显示面板进行阵列测试时,通过所述第三测试垫控制多个所述开关单元关闭,并通过所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板;
在对所述显示面板进行液晶分子取向时,通过所第三测试垫控制所述多个开关单元导通,并通过所述第二测试垫将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
9.根据权利要求8所述的测试方法,其特征在于,所述开关单元为三极管。
10.根据权利要求9所述的测试方法,其特征在于,所述测试电路还包括多个第四测试垫,每一所述显示面板对应一所述第四测试垫,且每一所述第四测试垫与所述三极管的控制端电连接;所述第一测试垫和所述第四测试垫相邻设置;
在对所述显示面板进行阵列测试时,通过所述第四测试垫输入控制信号,控制多个所述三极管关闭,并通过所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板;
在对所述显示面板进行液晶分子取向时,通过所述第三测试垫输入控制信号,控制多个所述三极管导通,并通过所述第二测试垫将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
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