[发明专利]柔性TFT基板的制作方法有效
| 申请号: | 201710459311.8 | 申请日: | 2017-06-16 |
| 公开(公告)号: | CN107424957B | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
| 发明(设计)人: | 李松杉 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 44265 深圳市德力知识产权代理事务所 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 柔性 tft 制作方法 | ||
1.一种柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1、提供柔性衬底基板(10),在所述柔性衬底基板(10)上沉积缓冲层(20),在所述缓冲层(20)上沉积并图案化形成有源层(31),在所述有源层(31)及缓冲层(20)上沉积栅极绝缘层(40),在所述栅极绝缘层(40)上沉积并图案化形成栅极(32);
步骤S2、在所述栅极(32)及栅极绝缘层(40)上沉积一氧化硅层(51),对所述氧化硅层(51)及栅极绝缘层(40)进行图案化处理,在对应于所述有源层(31)两侧的上方分别形成第一接触孔(511),同时在所述衬底基板(10)的上方形成与所述第一接触孔(511)相间隔的缓冲孔(513),所述第一接触孔(511)贯穿所述氧化硅层(51)及栅极绝缘层(40)而露出所述有源层(31)的两侧,所述缓冲孔(513)的尺寸大于所述第一接触孔(511)的尺寸,所述缓冲孔(513)的深度大于所述第一接触孔(511)的深度;
步骤S3、在所述氧化硅层(51)上涂布有机光阻材料,形成有机光阻层(52),在涂布过程中,该有机光阻材料填充所述缓冲孔(513),所述氧化硅层(51)与有机光阻层(52)共同构成层间介电层(50),然后对所述有机光阻层(52)进行图案化处理,在对应所述第一接触孔(511)的上方形成连接孔(521),从而露出第一接触孔(511);
步骤S4、在所述层间介电层(50)上沉积并图案化形成源极(33)与漏极(34),所述源极(33)与漏极(34)通过所述第一接触孔(511)和连接孔(521)分别与所述有源层(31)的两侧相接触。
2.如权利要求1所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S2中形成所述第一接触孔(511)及缓冲孔(513)的具体过程为:在所述氧化硅层(51)上涂布光阻材料,利用掩膜板对该层光阻材料进行曝光、及显影后,得到遮挡光阻层,该遮挡光阻层上具有分别用于形成所述第一接触孔(511)和缓冲孔(513)的第一开口和第二开口,以该遮挡光阻层为遮蔽层,对所述氧化硅层(51)及栅极绝缘层(40)进行干法蚀刻,在该第一开口下方对应形成第一接触孔(511),同时在该第二开口下方对应形成缓冲孔(513),然后去除遮挡光阻层。
3.如权利要求1所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,所述缓冲孔(513)比第一接触孔(511)宽5-10μm。
4.如权利要求1所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,所述有机光阻层(52)的材料为聚酰亚胺。
5.如权利要求1所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,还包括步骤S5、在所述源极(33)、漏极(34)及层间介电层(50)上形成平坦层(60),对所述平坦层(60)进行图案化处理,在对应于所述漏极(34)上方形成第二接触孔(601),在所述平坦层(60)上沉积并图案化形成像素电极(75),所述像素电极(75)通过所述第二接触孔(601)与漏极(34)相接触,在所述像素电极(75)及平坦层(60)上形成像素定义层(80),在所述像素定义层(80)上形成支撑物(95);
所述像素定义层(80)上设有对应于所述像素电极(75)上方的开口(85),该开口(85)限定出OLED发光区,所述像素电极(75)为OLED阳极。
6.如权利要求1所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S1中形成所述有源层(31)的具体过程为:在缓冲层(20)上沉积非晶硅薄膜,通过准分子镭射退火结晶工艺使所述非晶硅薄膜转化为多晶硅薄膜,然后对该多晶硅薄膜进行图案化处理,得到有源层(31)。
7.如权利要求1所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S1还包括:以所述栅极(32)为遮蔽层,对所述有源层(31)的两侧进行P型掺杂。
8.如权利要求7所述的柔性TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S1中进行P型掺杂时,向所述有源层(31)中掺入的离子为硼离子。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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