[发明专利]发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统有效
申请号: | 201710458277.2 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN107101536B | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 廖周;王允乾;张永光;莫德乐图 | 申请(专利权)人: | 成都安的光电科技有限公司 |
主分类号: | F41H11/02 | 分类号: | F41H11/02;G01B11/26 |
代理公司: | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人: | 林辉轮;张玲 |
地址: | 610041 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发射 激光 光轴 目标 跟踪 平行 控制系统 | ||
1.一种发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统,其特征在于,包括光轴平行度检测单元、控制单元、目标跟踪光轴校正单元和发射激光光轴校正单元;
所述光轴平行度检测单元,用于检测目标跟踪光轴的偏移量和发射激光光轴的偏移量;
所述控制单元,用于根据目标跟踪光轴的偏移量控制目标跟踪光轴校正单元,根据发射激光光轴的偏移量控制发射激光光轴校正单元;
所述目标跟踪光轴校正单元,用于调节目标跟踪光轴;
所述发射激光光轴校正单元,用于调节发射激光光轴。
2.根据权利要求1所述的发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统,其特征在于,所述光轴平行度检测单元,包括分光单元、后向反射器单元和光轴探测传感器单元;分光单元将发射激光的一部分透射至后向反射器单元,进入后向反射器单元的激光被后向反射器反射回来,经分光单元反射后,进入光轴探测传感器单元,得到发射激光光轴的偏移量;来自目标的跟踪光线,经过分光单元透射后,进入光轴探测传感器单元,得到目标跟踪光轴的偏移量。
3.根据权利要求1所述的发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统,其特征在于,所述光轴平行度检测单元,包括分光单元、后向反射器单元和光轴探测传感器单元;分光单元将目标跟踪光线透射至后向反射器单元,进入后向反射器单元的目标跟踪光线被后向反射器反射回来,经分光单元反射后,进入光轴探测传感器单元,得到目标跟踪光轴的偏移量;分光单元将发射激光的一部分透射至光轴探测传感器单元,得到发射激光光轴的偏移量。
4.根据权利要求2或3所述的发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统,其特征在于,所述后向反射器单元包括一个后向反射器,或者由多个后向反射器组成的后向反射器阵列。
5.一种发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统,其特征在于,包括光轴平行度检测单元、控制单元和目标跟踪光轴校正单元;
所述光轴平行度检测单元,用于检测目标跟踪光轴的偏移量和发射激光光轴的偏移量;
所述控制单元,用于根据目标跟踪光轴的偏移量和发射激光光轴的偏移量,控制目标跟踪光轴校正单元;
所述目标跟踪光轴校正单元,用于调节目标跟踪光轴,使得调节后的目标跟踪光轴与发射激光光轴之间的夹角在设定范围内。
6.一种发射激光光轴与目标跟踪光轴平行度控制系统,其特征在于,包括光轴平行度检测单元、控制单元和发射激光光轴校正单元;
所述光轴平行度检测单元,用于检测目标跟踪光轴的偏移量和发射激光光轴的偏移量;
所述控制单元,用于根据目标跟踪光轴的偏移量和发射激光光轴的偏移量,控制发射激光光轴校正单元;
所述发射激光光轴校正单元,用于调节发射激光光轴,使得目标跟踪光轴与调节后的发射激光光轴之间的夹角在设定范围内。
7.一种光轴平行度检测装置,其特征在于,包括分光单元、后向反射器单元和光轴探测传感器单元;分光单元将发射激光的一部分透射至后向反射器单元,进入后向反射器单元的激光被后向反射器反射回来,经分光单元反射后,进入光轴探测传感器单元,得到发射激光光轴的偏移量;来自目标的跟踪光线,经过分光单元透射后,进入光轴探测传感器单元,得到目标跟踪光轴的偏移量。
8.一种光轴平行度检测装置,其特征在于,包括分光单元、后向反射器单元和光轴探测传感器单元;分光单元将目标跟踪光线透射至后向反射器单元,进入后向反射器单元的目标跟踪光线被后向反射器反射回来,经分光单元反射后,进入光轴探测传感器单元,得到目标跟踪光轴的偏移量;分光单元将发射激光的一部分透射至光轴探测传感器单元,得到发射激光光轴的偏移量。
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