[发明专利]发光器件的老化测试方法和老化测试系统

说明书

本发明公开了一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统。该方法包括：在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间；根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间生成特征线，并生成所述特征线的斜率；判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0；若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时，停止对发光器件进行老化。本发明对不同的发光器件进行相应的老化处理，降低了不同的发光器件之间的寿命差异，从而提高了发光器件寿命的均一性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统。

背景技术

随着有机半导体技术的进步，有机发光二极管(Organic light emittingdiodes，简称OLED)日益成熟，其在照明和显示等领域发挥的作用越来越重要。与传统的液晶显示器不同，因为OLED具有自发光、宽视角、响应速度快、超薄、发光效率高、功耗低、工作温度宽等特点，被认为更有应用前景。同时，有机照明的研究工作也取得了较大的进展。

发光寿命是评价OLED的重要指标，目前OLED除了要在材料和制备工艺方面继续提高之外，稳定的器件性能也是不可缺少的因素。OLED量产制备过程中影响因素众多，不同批次间的产品寿命差异较大，导致后期对OLED老化的控制较困难。如果老化的不合理就会导致出厂后的产品寿命差异较大，影响客户的使用。不同批次的OLED虽然为相同结构的器件，但是寿命的离散性却很大。为保证出厂后产品的均一性和稳定性，出厂前会对产品进行老化处理。

现有技术中，老化处理中对OLED老化量的控制，一般采取老化时间控制或者衰减量控制，但是上述两种方案都不能很好的控制产品的均一性。例如，若在老化处理过程中以老化时间控制OLED的老化量，则在对不同的OLED采用相同的半小时的老化时间进行老化处理之后，不同的OLED的寿命差异较大。从而导致了采用现有技术对OLED进行老化处理，无法保证OLED产品之间寿命的均一性。

发明内容

本发明提供一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统，用于提高发光器件之间寿命的均一性。

为实现上述目的，本发明提供了一种发光器件的老化测试方法，包括：

S1、在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间；

S2、根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线，并生成所述特征线的斜率；

S3、判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0，若判断出所述特征线的斜率大于或等于0时执行步骤S4；若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时执行步骤S5，若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时继续执行步骤S1；

S4、将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值，并继续执行步骤S1；

S5、停止对发光器件进行老化。

可选地，所述S2包括：

S21、将所述第一特征参数和设置的初始特征参数相除，计算出第二特征参数；

S22、根据所述第二特征参数和与每个所述第二特征参数对应的测试时间生成特征线。

可选地，所述初始特征参数等于采集的多个第一特征参数中第一个第一特征参数。

可选地，所述第一特征参数为第一亮度值，所述初始特征参数为初始亮度值。

可选地，所述S5之后还包括：

S6、记录老化时间和/或老化量。