[发明专利]发光器件的老化测试方法和老化测试系统

权利要求书

1.一种发光器件的老化测试方法，其特征在于，包括：

S1、在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间；

S2、根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线，并生成所述特征线的斜率；

S3、判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0，若判断出所述特征线的斜率大于或等于0时执行步骤S4；若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时执行步骤S5，若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时继续执行步骤S1；

S4、将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值，并继续执行步骤S1；

S5、停止对发光器件进行老化。

2.根据权利要求1所述的发光器件的老化测试方法，其特征在于，所述S2包括：

S21、将所述第一特征参数和设置的初始特征参数相除，计算出第二特征参数；

S22、根据所述第二特征参数和与每个所述第二特征参数对应的测试时间生成特征线。

3.根据权利要求2所述的发光器件的老化测试方法，其特征在于，所述初始特征参数等于采集的多个第一特征参数中第一个第一特征参数。

4.根据权利要求2所述的发光器件的老化测试方法，其特征在于，所述第一特征参数为第一亮度值，所述初始特征参数为初始亮度值。

5.根据权利要求1所述的发光器件的老化测试方法，其特征在于，所述S5之后还包括：

S6、记录老化时间和/或老化量。

6.根据权利要求1所述的发光器件的老化测试方法，其特征在于，所述特征线为曲线或者直线。

7.一种发光器件的老化测试系统，其特征在于，包括：

采集模块，用于在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间；

生成模块，用于根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线，并生成所述特征线的斜率；

判断模块，用于判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0，若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时，触发所述采集模块，由所述采集模块继续执行所述在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数的步骤；

老化控制模块，用于若所述判断模块判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时，停止对发光器件进行老化；

设置模块，用于若所述判断模块判断出所述特征线的斜率大于或等于0时，将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值，并触发所述采集模块，由所述采集模块继续执行所述在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数的步骤。

8.根据权利要求7所述的发光器件的老化测试系统，其特征在于，所述生成模块包括：

计算子模块，用于将所述第一特征参数和设置的初始特征参数相除，计算出第二特征参数；

生成子模块，用于根据所述第二特征参数和与每个所述第二特征参数对应的测试时间生成特征线。

9.根据权利要求8所述的发光器件的老化测试系统，其特征在于，所述初始特征参数等于采集的多个第一特征参数中第一个第一特征参数。

10.根据权利要求8所述的发光器件的老化测试系统，其特征在于，所述第一特征参数为第一亮度值，所述初始特征参数为初始亮度值。