[发明专利]纳米材料热性能测试装置在审
申请号: | 201710447594.4 | 申请日: | 2017-06-14 |
公开(公告)号: | CN107271479A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 贾国治;张延榜 | 申请(专利权)人: | 天津城建大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 天津才智专利商标代理有限公司12108 | 代理人: | 吕志英 |
地址: | 300384 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纳米 材料 性能 测试 装置 | ||
技术领域
本发明涉及到一种纳米材料热性能测试装置,属于材料热学性能研究领域。
背景技术
很多纳米材料具有优异的热学性能,如良好的导热性,热稳定性,快速加热性能,目前已经在很多领域得到了研究和应用,特别是纳米材料的电热转换和光热转性能已经受到很多研究者的青睐,电热转换器件能够用在汽车、飞机等装置上除雾,光热转换器件在生物领域,太阳能综合利用领域,传感器件领域具有很大的应用前景。这些纳米材料的热性能基础研究研究离不开温度的精确测量,目前对纳米材料温度测试的装置功能比较单一,所以开发一种兼备多功能的热性能检测装置对纳米材料的热性质的研究具有一定的指导意义。
发明内容
本发明涉及到一种简单、稳定、可操作性强的纳米材料热性能测测试装置,该装置具有多重的用途,可以用于电加热测试,光加热测试;能够测试多种类型的样品,可使用多探针的方式测试样品温度分布,结合红外成像装置更可以直观明了的观察样品的温度分布情况。通过热源提供热量,利用测温仪检测温度变化和温度分布情况,实现对温度的实时检测和观察。该装置安装了简单的样品旋转台,可以方便更换样品,放置薄膜的样品槽两边装有铜导电夹,用作电加热温度测量,该装置的另一个功能是可以测试水蒸发散失量,对蒸发水淡化材料研究有很大的帮助。
为了实现上述的目的,本发明采取的技术方案是提供一种本发明的纳米材料热性能测测试装置,其中:该装置包括横向滑轨支架,示波器,纵向滑轨支架,调压旋钮,电子天平,固定底板,溶液样品槽,铜片夹,可旋转样品台,薄膜样品槽,粉体样品槽,非接触式红外测温仪,横向滑轨滑,滑轨支架,固定转轴,光源,直流稳压电源;还有包括高精度测温探头,探头运动轨道,探头固定底板,多通道数据采集模块形成的多点接触式测温装置。
所述纵向滑轨支架固定在底板上,横向滑轨支架和纵向滑轨支架交叉连接,在固定底板一侧设置有示波器和直流稳压电源,在固定底板上面设有电子天平和旋转样品台,在旋转样品台上面设有薄膜样品槽,溶液样品槽和粉体样品槽,在薄膜样品槽两侧边固定有铜片夹,横向滑轨支架和滑轨支架通过滑轨连接,接触式红外测温仪固定在横向滑轨支架顶端连接,横向滑轨支架通过滑轨与滑轨支架连接,横向滑轨支架另一侧固定有转轴,转轴连接光源;所述多点接触式测温装置的高精度测温探头装在滑动轨道上,高精度测温探头的导线与多通道数据采集模块连接,多通道数据采集模块另一端与电脑连接,高精度测温探头、探头运动轨道以及探头固定底板放置在样品旋转台一侧。
本发明的效果是具有多重的使用功能,第一,可以实现双重的加热方式温度实时检测,包括电加热,光加热。第二,设置三种样品槽,可以测试溶液类,薄膜类,粉体类样品,并可以任意转换样品槽的位置。第三,兼顾接触式和非接触式实时测温方式,同时具有非接触式热成像功能,再加上接触式利用四个高精度测温探头,可以从数据和热成像两方面得到样品的温度分布。第四,安装高精度电子天平,能够测试由光照导致的水蒸发量,可以用作水淡化效率的评估研究。本装置综合以上所述,再加上本装置容易理解,简单易行,操作性强等优点,对温度检测的研究领域具有重要的实用意义。
附图说明
图1为本发明的多功能纳米材料热性能测试装置主体部分;
图2为本发明的多点接触式温度采集装置。
具体实施方式
结合附图对本发明的纳米材料热性能测试装置结构加以说明。
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