[发明专利]纳米材料热性能测试装置

权利要求书

1.一种纳米材料热性能测试装置，其特征是：该装置包括横向滑轨支架(1)，示波器(2)，纵向滑轨支架(3)，调压旋钮(4)，电子天平(5)，固定底板(6)，溶液样品槽(7)，铜片夹(8)，可旋转样品台(9)，薄膜样品槽(10)，粉体样品槽(11)，非接触式红外测温仪(13)，横向滑轨滑(14)，滑轨支架(15)，固定转轴(16)，光源(17)，直流稳压电源(18)；还有包括高精度测温探头(19)，探头运动轨道(20)，探头固定底板(21)，多通道数据采集模块(22)形成的多点接触式测温装置；

所述纵向滑轨支架(3)固定在底板(6)上，横向滑轨支架(1)和纵向滑轨支架(3)交叉连接，在固定底板(6)一侧设置有示波器(2)和直流稳压电源(18)，在固定底板(6)上面设有电子天平(5)和旋转样品台(9)，在旋转样品台(9)上面设有薄膜样品槽(10)，溶液样品槽(7)和粉体样品槽(11)，在薄膜样品槽(10)两侧边固定有铜片夹(8)，横向滑轨支架(14)和滑轨支架(15)通过滑轨连接，接触式红外测温仪(13)固定在横向滑轨支架(14)顶端连接，横向滑轨支架(1)通过滑轨与滑轨支架(3)连接，横向滑轨支架(1)另一侧固定有转轴(16)，转轴(16)连接光源(17)；所述多点接触式测温装置的高精度测温探头(19)装在滑动轨道(20)上，高精度测温探头(19)的导线与多通道数据采集模块(22)连接，多通道数据采集模块(22)另一端与电脑连接，高精度测温探头(19)、探头运动轨道(20)以及探头固定底板(21)放置在样品旋转台一侧。

2.根据权利要求1纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的横向滑轨支架(1)能够在纵向滑轨支架(3)上滑动。

3.根据权利要求1所述纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的直流稳压电源(18)的电压能够通过旋钮(4)在0-100伏范围调节，导线接口(12)引出导线与铜片夹(8)连接。

4.根据权利要求1所述纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的光源(17)为可调激光器或太阳光模拟器之一。

5.根据权利要求1所述纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的示波器(2)引出导电与光源(17)连接。

6.根据权利要求1所述纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的非接触式测温仪(13)和高精度测温探头(19)，测温范围-50～150℃，测量精度0.06℃；高精度测温探头(19)安装在滑动轨道(20)上滑动。

7.根据权利要求1所述纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的可旋转样品台(9)通过与底板(6)连接的转轴能够360°旋转，可旋转样品台(9)上面设有不同溶液类、薄膜类、粉体类样品的样品槽。

8.根据权利要求1所述纳米材料热性能测试装置，其特征是：所述的固定转轴(16)的一端与光源(17)固定，另一端通过轴承与横向滑轨支架(1)连接，能够在360°范围内任意转动。