[发明专利]一种基于氧化石墨烯的高稳定性阻变存储器有效

专利信息
申请号: 201710441373.6 申请日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN107256925B 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 徐海阳;王中强;朱佳雪;谢瑜;黎旭红;刘益春 申请(专利权)人: 东北师范大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;B82Y30/00;B82Y10/00
代理公司: 长春市东师专利事务所 22202 代理人: 张铁生;刘延军
地址: 130021 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 氧化 石墨 稳定性 存储器
【说明书】:

发明公开了一种基于氧化石墨烯的高稳定性阻变存储器,包括底电极、顶电极以及位于两电极之间的阻变功能层,所述的阻变功能层为掺杂有TiO2纳米颗粒的氧化石墨烯乙醇溶液经磁力搅拌器上搅拌,旋涂在底电极表面,形成的薄膜,所述的薄膜再经过紫外光照射处理;与没有掺杂TiO2纳米颗粒的阻变存储器相比,开启电压值明显小于对照器件相应的值,可有效降低细丝形成过程中的电功耗;连续100次开关操作的Vset和Vreset累积概率分布相对集中,电学参数均一;对照器件在连续开关600次以后,器件高低阻态相互交迭从而器件失效;高低阻态在连续1000次开关操作后依旧保持较大的开关比例(Roff/on~20),工作稳定性高。

技术领域

本发明属于微电子器件领域,具体涉及一种基于氧化石墨烯的高稳定性阻变存储器。

背景技术

随着传统闪存器件的特征尺寸接近理论极限,其存储密度的进一步提高面临严峻挑战,在现代社会对信息存储量的需求日益增加的背景下,急需寻找新的解决方案。在众多的新型存储器如铁电存储器(FeRAM)、磁存储器(MRAM)、相变存储器(PRAM)、阻变存储器(RRAM)中,RRAM因其结构简单,存储密度高,读写速度快,功耗低,与传统CMOS工艺兼容等优点脱颖而出,被认为是下一代极具发展潜力的非易失性存储器。其工作原理可解释为:通过在器件的电极两端施加电压激励,来调控器件的电阻在高、低两种阻态下发生可逆转变,从而实现信息存储。金属氧化物、硫化物及碳基材料均可用于展示阻变行为,并应用于RRAM器件。其中氧化石墨烯材料因其独特的2D结构、高杨氏模量、大的拉伸强度、大的比表面积、超薄透明等优异性能,被广泛地应用在工程制造和科学研究中。同时它也是一种很好的水溶性材料和绝缘材料,可通过简单的旋涂或滴涂工艺等制成薄膜,适用于阻变存储器的阻变功能层,为发展高密度、柔性、透明的阻变存储器提供了可靠依据。其阻变原理可用导电通道机制加以解释,即在电场和焦耳热的作用下,通过控制氧化石墨烯的部分还原和再氧化,来调控sp2导电通道的形成和断裂,从而实现器件的开启和关闭。然而RRAM器件中的导电通道常常受限于形成和断裂的随机性,使得器件运行存在较大的波动性。

针对上述问题,基于金属导电细丝工作的RRAM,一种有效的解决方案是在薄膜中掺杂特定的金属纳米颗粒,降低导电通道形成与断裂的随机性。然而考虑到氧化石墨烯基RRAM所形成的sp2导电通道的特殊性,传统的掺杂方法难以解决其导电通道的随机性问题。

发明内容

本发明的目的为了解决基于氧化石墨烯基RRAM所形成的sp2导电通道的特殊性,传统的掺杂方法难以解决其导电通道的随机性问题,而提供一种基于氧化石墨烯的高稳定性阻变存储器。

一种基于氧化石墨烯的高稳定性阻变存储器,包括底电极、顶电极以及位于两电极之间的阻变功能层,所述的阻变功能层为掺杂有TiO2纳米颗粒的氧化石墨烯乙醇溶液经磁力搅拌器上搅拌,旋涂在底电极表面,形成的薄膜,所述的薄膜再经过紫外光照射处理;

所述的TiO2纳米颗粒的粒径为 10nm~20nm;

所述的掺杂有TiO2纳米颗粒的氧化石墨烯乙醇溶液,其中氧化石墨烯的含量为0.5mg/ml~2mg/ml;TiO2纳米颗粒与氧化石墨烯两者的质量比为1:30~1:5;

所述的搅拌时间为5~10小时;

所述的阻变功能层其厚度为50nm~200nm;

所述的紫外光照射处理为光照时间为2~15分钟;

所述的紫外光波长为320~400nm;

所述的光强度为2~8mW/cm2

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