[发明专利]荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法有效
申请号: | 201710431071.0 | 申请日: | 2017-06-08 |
公开(公告)号: | CN107219298B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 卜雄洙;王正成;高敏杰;曹一涵;朱莹莹;韩伟 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01N27/84 | 分类号: | G01N27/84 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 缺陷 成像 检测 中的 工件 装置 方法 | ||
本发明公开了一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法,对中装置包括第一平面电极、第二平面电极、第一磁性底座、第二磁性底座、第一升降平台、第二升降平台、旋转运动机构、第一延长垫块、第二延长垫块、垂直激光投线仪和水平激光投线仪;激光投线仪用于生成水平和垂直方向的投影线;磁性底座用于辅助放置待检工件;升降平台用于调整工件垂直高度;专用延长垫块用于固定待检工件两端,并提供能与激光线对应的实体刻度线。本发明可应用于荧光磁粉缺陷成像检测系统中,解决传统荧光磁粉检测设备因无法对工件对中夹持造成图像偏移、降低测量精度的问题;本发明适用于不同类型的工件,具有简明直观、实用快速、操作方便的特点。
技术领域
本发明涉及磁粉无损检测技术,具体涉及一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法。
背景技术
在荧光磁粉缺陷成像检测系统中,工业相机对夹持在平面电极上的待检工件进行图像采集,以便实现工件表面缺陷的识别和测量。
荧光磁粉缺陷成像检测系统对工件缺陷的判别是以图像为基础的,工件对中夹持情况与所采集的图像失真与否有直接关系,即:如果工件不能夹持的对中,一方面会由于其不居中造成工件两边的光照强度不一致,影响图像亮度均匀性;另一方面,由于透视原理,工件倾斜造成图像的倾斜失真,影响测量精度。当工件对中情况很差时,甚至有可能使工件超出相机视场范围,无法采集完整图像。
由于传统荧光磁粉探伤通过肉眼观察检测、无需工件完全夹持对中。而荧光磁粉缺陷成像检测系统尚未普及,目前没有适用于该系统工件对中的相关装置及方法。
根据GBT15822-1995磁粉探伤方法9.2.1.5所述,试件必须与电极接触良好,否则可能烧损试件,必要时放上导电衬垫。现有的对中方法,如发明专利CN103454341A,利用机械摆臂、滑轮导杆及传动结构对被检工件自动找中,其缺点是只适用于圆形回转工件,无法对截面为长方形的工件对中,并且装置的硬件成本较高,安装繁琐。又如发明专利CN103439403A,利用带弹性卡爪的环形夹头夹持异形工件,其缺点是没有空间安装导电衬垫,并且环形夹头只能与长方形零件多点接触,磁化通电时会产生电弧,损害工件表面。
发明内容
本发明的目的在于提供一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法,以解决该系统中,因无法对中夹持工件造成图像偏移、降低测量精度的问题。
实现本发明目的的技术解决方案为:一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置,其特征在于,包括第一平面电极、第二平面电极、第一磁性底座、第二磁性底座、第一升降平台、第二升降平台、旋转运动机构、第一延长垫块、第二延长垫块、垂直激光投线仪和水平激光投线仪;
第一平面电极和第二平面电极分别设置在待检工件两侧,并且能够同步旋转;旋转运动机构用于带动第二平面电极旋转以及沿待检工件轴向移动,以便夹持待检工件;第一磁性底座和第二磁性底座分别水平设置于第一升降平台和第二升降平台上,随着升降平台同步升降垂直高度;第一专用延长垫块和第二专用延长垫块分别设置在待检工件的左右两侧,并且分别设置在第一磁性底座和第二磁性底座上;水平激光投线仪与第一平面电极旋转轴在同一水平面上,用于生成水平方向投影线,垂直激光投线仪位于第一平面电极旋转轴的垂直正上方,用于生成垂直方向的投影线。
一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中方法,包括以下步骤:
步骤1,垂直激光投线仪安装于磁粉探伤机旋转轴的正上方,激光线垂直向下投射,且投影线经过第一平面电极的旋转轴;调节垂直激光投线仪的投射角度,使其投影范围包含探伤机的工作范围;水平激光投线仪安装于磁粉探伤机旋转轴的正前方,激光线水平向后投影,且投影线经过第一平面电极的旋转轴;调节水平激光投线仪的投射角度,使其投影范围包含探伤机的工作范围;
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