[发明专利]荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法

权利要求书

1.一种荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置，其特征在于，包括第一平面电极(1)、第二平面电极(11)、第一磁性底座(2)、第二磁性底座(6)、第一升降平台(3)、第二升降平台(5)、旋转运动机构(12)、第一延长垫块(7)、第二延长垫块(10)、垂直激光投线仪(9)和水平激光投线仪(4)；

第一平面电极(1)和第二平面电极(11)分别设置在待检工件(8)两侧，并且能够同步旋转；旋转运动机构(12)用于带动第二平面电极(11)旋转以及沿待检工件(8)轴向移动，以便夹持待检工件(8)；第一磁性底座(2)和第二磁性底座(6)分别水平设置于第一升降平台(3)和第二升降平台(5)上，随着升降平台同步升降垂直高度；第一延长垫块(7)和第二延长垫块(10)分别设置在待检工件(8)的左右两侧，并且分别设置在第一磁性底座(2)和第二磁性底座(6)上；水平激光投线仪(4)与第一平面电极(1)旋转轴在同一水平面上，用于生成水平方向投影线，垂直激光投线仪(9)位于第一平面电极(1)旋转轴的垂直正上方，用于生成垂直方向的投影线。

2.根据权利要求1所述的荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置，其特征在于，第一延长垫块(7)和第二延长垫块(10)为长方体延长垫块、圆柱延长垫块或塔形件延长垫块。

3.根据权利要求2所述的荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置，其特征在于，第一延长垫块(7)和第二延长垫块(10)的个数均为一个以上。

4.根据权利要求2所述的荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置，其特征在于，第一延长垫块(7)和第二延长垫块(10)设置有与待检工件(8)截面相同形状的凹槽。

5.根据权利要求2、3、或4所述的荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置，其特征在于，第一延长垫块(7)和第二延长垫块(10)侧面设置有呈90°均匀分布的刻度线。

6.一种基于权利要求5所述荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置的对中方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，垂直激光投线仪(9)安装于磁粉探伤机旋转轴的正上方，激光线垂直向下投射，且投影线经过第一平面电极(1)的旋转轴；调节垂直激光投线仪(9)的投射角度，使其投影范围包含探伤机的工作范围；水平激光投线仪(4)安装于磁粉探伤机旋转轴的正前方，激光线水平向后投影，且投影线经过第一平面电极(1)的旋转轴；调节水平激光投线仪(4)的投射角度，使其投影范围包含探伤机的工作范围；

步骤2，第一升降平台(3)水平放置在第一平面电极(1)旋转轴下方，将磁性底座(2)吸附在第一升降平台(3)上，且磁性底座的V型槽线与旋转轴线平行；第二升降平台(5)水平放置在第二平面电极(11)旋转轴下方，将磁性底座(6)吸附在第二升降平台(5)上，且磁性底座的V型槽线与旋转轴线平行；

步骤3，将待检工件(8)左右两端装配上第一延长垫块(7)和第二延长垫块(10)；

步骤4，将第一延长垫块(7)架设在第一磁性底座(2)的V型槽上，第二延长垫块(10)架设在第二磁性底座(6)的V型槽上，通过分别调节第一升降平台(3)、第二升降平台(5)的高度，旋转待检工件(8)角度，使两个延长垫块上的一条刻线和水平激光投线重合；前后移动水平升降台，使延长垫块上的另一条相邻刻线与垂直激光投线重合；此时第一延长垫块(7)的中心轴、第二延长垫块(10)的中心轴与第一平面电极(1)的旋转轴、第二平面电极(11)的旋转轴共线，即待检工件(8)的中心轴与第一平面电极(1)、第二平面电极(11)的旋转轴共线，对中操作完成；

步骤5，移动旋转运动机构(12)，直至将待检工件(8)夹紧；

步骤6，将第一磁性底座(2)、第二磁性底座(6)、第一升降平台(3)和第二升降平台(5)撤出工作区域。