[发明专利]一种显示基板的测试方法及应用于显示设备的基板

权利要求书

1.一种应用于显示设备的基板，其特征在于，包括：

基板本体，其一表面形成有多个矩阵排列的组合显示基板，每个所述组合显示基板包括相互组合的较大显示基板与较小显示基板，每个所述组合显示基板的外围区域设有测试线路，所述测试线路包括成膜保证区与非成膜保证区；

其中，对应不同的所述较大显示基板和所述较小显示基板的测试走线及测试跨线，设置于所述测试线路，且所述测试跨线与所述测试走线的交叉密集区设于所述成膜保证区；

所述外围区域还设有测试垫，所述测试垫包括光配测试垫与阵列测试垫，所述测试走线分别和与其对应的所述光配测试垫和所述阵列测试垫电连接，所述测试走线通过对应的所述测试跨线和与其对应的显示基板内部的信号引脚连接；

其中，一部分所述测试跨线的一端连接一条所述测试走线，另一端连接所述列测试垫，另一部分所述测试跨线的一端连接一条所述测试走线，另一端跨过至少另一条所述测试走线而到达所述信号引脚，且位于所述成膜保证区的所述测试跨线的数量多于位于所述非成膜保证区的所述测试跨线的数量。

2.根据权利要求1所述的应用于显示设备的基板，其特征在于，所述光配测试垫包括第一光配测试垫和第二光配测试垫，所述阵列测试垫包括第一阵列测试垫和第二阵列测试垫，所述较小显示基板的远离所述较大显示基板一侧设有与所述较小显示基板对应的所述第一光配测试垫，以及与所述较大显示基板对应的所述第二光配测试垫，所述第一光配测试垫与所述第二光配测试垫的排列方向平行于所述较小显示基板的所述一侧，且所述第一光配测试垫和所述成膜保证区相邻，所述第二光配测试垫位于所述第一光配测试垫远离所述成膜保证区的一侧；

所述成膜保证区沿对应的所述较小显示基板的另外一侧分别设有与其对应的第一阵列测试垫，和与所述较大显示基板对应的第二阵列测试垫，所述第二阵列测试垫位于所述第一阵列测试垫远离所述第一光配测试垫的一侧，与所述较小显示基板对应的所述测试走线为第一测试走线，与所述较大显示基板对应的所述测试走线为第二测试走线，所述第二测试走线设于所述第一测试走线与所述组合显示基板之间。

3.根据权利要求1所述的应用于显示设备的基板，其特征在于，所述光配测试垫包括第三光配测试垫和第四光配测试垫，所述阵列测试垫包括第三阵列测试垫和第四阵列测试垫，所述较小显示基板的远离所述较大显示基板一侧设有与所述较小显示基板对应的所述第三光配测试垫，以及与所述较大显示基板对应的所述第四光配测试垫，所述第三光配测试垫与所述第四光配测试垫的排列方向平行于所述较小显示基板的所述一侧，且所述第四光配测试垫和所述成膜保证区相邻，所述第三光配测试垫位于所述第四光配测试垫远离所述成膜保证区的一侧；

所述成膜保证区沿对应的所述较小显示基板的另外一侧分别设有与其对应的第三阵列测试垫，和与所述较大显示基板对应的第四阵列测试垫，所述第四阵列测试垫位于所述第三阵列测试垫远离所述第四光配测试垫的一侧，与所述较小显示基板对应的所述测试走线为第三测试走线，与所述较大显示基板对应的所述测试走线为第四测试走线；

在所述成膜保证区，所述第三测试走线设于所述第四测试走线和所述组合显示基板之间，在所述非成膜保证区，所述第四测试走线设于所述三测试走线和所述组合显示基板之间，在所述成膜保证区与所述非成膜保证区的交叉区，所述第三测试走线与所述第四测试走线交叉排列。

4.根据权利要求1所述的应用于显示设备的基板，其特征在于，每个所述组合显示基板中，所述测试线路部分包围所述组合显示基板的外边缘，所述成膜保证区位于所述组合显示基板同一侧的所述较大显示基板与所述较小显示基板所述外围区域的交集区，所述非成膜保证区位于所述成膜保证区之外的所述测试线路。

5.根据权利要求1所述的应用于显示设备的基板，其特征在于，所述测试跨线与所述测试走线的交叉稀疏区设于所述非成膜保证区。

6.根据权利要求1所述的应用于显示设备的基板，其特征在于，不同的所述测试走线至少部分互相平行排列。