[发明专利]一种OLED显示器件失效检测探测系统及其检测方法

说明书

本发明涉及OLED显示器件的检测领域，尤其涉及一种OLED显示器件失效检测探测系统，包括：混气输入装置，探测器装置，控制器及排气装置。本发明能检测出水汽、氧气、温度、交直流对OLED等薄膜半导体器件效率的影响结果，筛选出有效的封装材料及结构，同时，也可以从气氛、温度、湿度、电流等多角度、全方面地进行故障分析，从而实现OLED显示器件造价低、功能多、使用成本低的特点，进而满足大部分科研及工业生产需要。另，本发明还提供了一种OLED显示器件失效的检测方法。

技术领域

本发明涉及OLED显示器件的检测领域，尤其涉及一种OLED显示器件失效检测探测系统及其检测方法。

背景技术

OLED柔性显示器件是新一代显示技术中的一大亮点，在智能手机、平板电视、头戴显示、增强显示等方面得到越来越多的应用。

OLED显示技术处于起步阶段，由于市面上的OLED显示器具有性能稳定性差、工作寿命短及生产成本高均阻碍了OLED柔性显示器件走向实用化和市场化，因此，开展OLED柔性显示器件的故障检测工作，研究其故障机理，对提高OLED显示器件的可靠性、促进柔性显示技术的发展具有十分重大的意义。

传统的显示技术故障分析手段有：RA信赖性试验、工作寿命测试、水氧透过率测试等，然而，这些测试方式不能有效的区分使用环境各因素的影响，因而难以确定故障原因的主次和相互作用，不利于开发新型衬底封装材料以及改进生产工艺，进而制约了OLED显示向轻薄化、柔性化的发展。

为此有必要提供一种OLED显示器件失效检测探测系统及其检测方法来克服上述缺陷。

发明内容

本发明提供了一种OLED显示器件失效检测探测系统，能检测出水汽、氧气、温度、交直流对OLED等薄膜半导体器件效率的影响结果，筛选出有效的封装材料及结构，同时，也可以从气氛、温度、湿度、电流等多角度、全方面地进行故障分析，从而实现OLED显示器件造价低、功能多、使用成本低的特点，进而满足大部分科研及工业生产需要。

相应地，本发明还提供了一种OLED显示器件失效检测探测的检测方法，能检测出水汽、氧气、温度、交直流对OLED等薄膜半导体器件效率的影响结果，筛选出有效的封装材料及结构，同时，也可以从气氛、温度、湿度、电流等多角度、全方面地进行故障分析，从而实现OLED显示器件造价低、功能多、使用成本低的特点，进而满足大部分科研及工业生产需要。

为了解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案为：

一种OLED显示器件失效检测探测系统，包括：

混气输入装置，用于提供混合气体；

探测器装置，与所述混气输入装置连接、用于探测OLED显示器件在不同条件下的工作情况，和/或用于获取待测物的反射率波谱；

控制器，用于根据所述探测器装置传送的信息、处理分析出所述OLED显示器件的失效规律，和/或根据所述探测器装置传送的信息、定量分析出所述待测物的保护性能；及

排气装置，与所述探测器装置连接、用于排出气体。

本发明的一种OLED显示器件失效检测探测系统，通过所述混气输入装置控制一定湿度及一定量的气体输入，所述探测器装置在不同的测试条件下探测所述OLED显示器件的失效规律，同时，所述探测器装置获取待测物的反射率波谱，并将探测结果或反射率波谱传输至所述控制器，所述控制器处理所述信息、分析出所述OLED显示器件的失效规律，或定量分析出所述待测物的保护性能。本发明能测试出不同测试环境对所述OLED的影响，并根据测试结果筛选出有效的封装材料及结构，从而实现OLED显示器件造价低、功能多、使用成本低的特点，进而满足大部分科研及工业生产需要。