[发明专利]一种OLED显示器件失效检测探测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种OLED显示器件失效检测探测系统，其特征在于，包括：

混气输入装置，用于提供混合气体；

探测器装置，与所述混气输入装置连接、用于探测OLED显示器件在不同条件下的工作情况，和用于获取待测物的反射率波谱；所述条件包括：可控水汽、氧气浓度条件，高低温条件或交直流条件；

控制器，用于根据所述探测器装置传送的工作情况、处理分析出所述OLED显示器件的失效规律及相应的解决方案，和根据所述探测器装置传送的反射率波谱、定量分析出所述待测物的保护性能；所述待测物包括：玻璃、有机薄膜、氧化物薄膜衬底和封装材料；所述控制器分析衬底和封装材料的角度对待测物的失效情况进行分析，测量保护膜的均匀性，以筛选有效的封装材料及结构；及

排气装置，与所述探测器装置连接、用于排出气体。

2.如权利要求1所述的OLED显示器件失效检测探测系统，其特征在于，所述探测器装置包括：与所述混气输入装置和所述控制器连接的气密箱，设置在所述气密箱内的器件夹具，设置在所述气密箱内、且设置在所述器件夹具上方的数码显微镜、湿度探头和光源组件。

3.如权利要求2所述的OLED显示器件失效检测探测系统，其特征在于，所述器件夹具上设置有加热平台。

4.一种OLED显示器件失效的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

控制输入相对应的检测条件；所述检测条件包括：可控水汽、氧气浓度条件，高低温条件或交直流条件；

探测器装置探测OLED显示器件在所述检测条件下的工作情况；

所述探测器装置获取待测物的反射率波谱；所述待测物包括：玻璃、有机薄膜、氧化物薄膜衬底和封装材料；

控制器根据所述探测器装置传送的工作情况信息、处理分析出所述OLED显示器件的失效规律；

所述控制器根据所述探测器传送的反射率波谱信息、处理分析所述待测物的保护性能并筛选出有效的封装材料及结构。