[发明专利]像抖校正装置有效
申请号: | 201710373253.7 | 申请日: | 2017-05-24 |
公开(公告)号: | CN107621739B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 西原林太郎 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G03B5/00 | 分类号: | G03B5/00;G03B43/00 |
代理公司: | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉;孙明浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校正 装置 | ||
1.一种像抖校正装置,其具有:可动部,其具有摄像元件或摄像透镜;以及VCM驱动部,该VCM驱动部使用线圈和驱动用磁铁而相对于固定部驱动上述可动部,其特征在于,该像抖校正装置具有:
位置检测元件,其配置于上述可动部和上述固定部中的一方;以及
一对位置检测用磁铁,它们配置于与上述位置检测元件对置的位置,并配置于上述可动部和上述固定部中的另一方,
上述一对位置检测用磁铁是被配置成不同的磁极与上述位置检测元件的表面对置的第1磁铁和第2磁铁,
上述第1磁铁和上述第2磁铁沿着从光轴远离的方向依次配置,该光轴是进入到上述摄像元件或上述摄像透镜的光束的中心,
分别从上述第1磁铁和上述第2磁铁到达上述位置检测元件的表面的磁通密度的大小不同。
2.根据权利要求1所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述一对位置检测用磁铁中的上述第2磁铁还具有抵消来自附近单元的磁力的影响的功能。
3.根据权利要求2所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述第2磁铁的磁力比上述第1磁铁的磁力大。
4.根据权利要求3所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述第1磁铁和上述第2磁铁形成为仅沿着上述光轴的方向的长度不同的长方体形状。
5.根据权利要求3所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述第1磁铁和上述第2磁铁由相同形状且相同尺寸的长方体形状构成,由不同的材料形成。
6.根据权利要求3所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述第1磁铁和上述第2磁铁由相同形状且相同尺寸的长方体形状构成,被配置为沿着光轴的方向的位置不同。
7.根据权利要求3所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述第1磁铁和上述第2磁铁形成为仅与上述光轴的方向垂直的方向的长度不同的长方体形状。
8.根据权利要求3所述的像抖校正装置,其特征在于,
上述第1磁铁和上述第2磁铁形成为沿着上述光轴的方向的长度和与上述光轴的方向垂直的方向的长度均不同的长方体形状。
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