[发明专利]阵列基板、显示面板及阵列基板的制作方法在审
申请号: | 201710362475.9 | 申请日: | 2017-05-19 |
公开(公告)号: | CN107195638A | 公开(公告)日: | 2017-09-22 |
发明(设计)人: | 胡小波 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人: | 郝传鑫,熊永强 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 显示 面板 制作方法 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括:
基板;
栅极,形成在所述基板上;
栅极绝缘层,形成在所述基板的朝向所述栅极的一侧,所述栅极绝缘层覆盖所述栅极;
有源层,形成在所述栅极绝缘层的远离所述栅极的一侧,所述有源层采用铟镓锌锡氧化物材料;
欧姆接触层,形成在所述有源层的远离所述栅极绝缘层的一侧,所述欧姆接触层采用被导体化的铟镓锌氧化物材料且覆盖所述有源层的两端;以及
彼此间隔的源极和漏极,形成在所述欧姆接触层的远离所述有源层的一侧,所述源极和所述漏极分别通过所述欧姆接触层电连接至所述有源层的两端。
2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述欧姆接触层包括间隔设置的第一欧姆接触块和第二欧姆接触块,所述第一欧姆接触块覆盖所述有源层的一端且连接所述源极,所述第二欧姆接触块覆盖所述有源层的另一端且连接所述漏极。
3.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述有源层的厚度大于等于400埃且小于等于1000埃,所述欧姆接触层的厚度小于等于500埃。
4.如权利要求1~3任一项所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括:
钝化层,覆盖所述源极、所述漏极以及所述有源层,所述钝化层具有通孔,所述通孔用以暴露出部分所述漏极;和
像素电极,形成在所述钝化层的远离所述源极的一侧,所述像素电极通过所述通孔连接至所述漏极。
5.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求1~4任一项所述的阵列基板。
6.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,包括:
在基板上形成栅极;
在所述基板的朝向所述栅极的一侧形成栅极绝缘层,所述栅极绝缘层覆盖所述栅极;
在所述栅极绝缘层的远离所述栅极的一侧依次沉积铟镓锌锡氧化物层和铟镓锌氧化物层;
通过导体化工艺处理所述铟镓锌氧化物层,以形成被导体化的铟镓锌氧化物层;
在所述被导体化的铟镓锌氧化物层的远离所述铟镓锌锡氧化物层的一侧沉积金属层;
通过光罩制程去除部分所述金属层、部分所述被导体化的铟镓锌氧化物层以及部分所述铟镓锌锡氧化物层,以形成有源层;
通过湿刻蚀工艺去除部分所述金属层和部分所述被导体化的铟镓锌氧化物层,以形成欧姆接触层以及彼此间隔的源极和漏极,所述欧姆接触层覆盖所述有源层的两端,所述源极和所述漏极分别通过所述欧姆接触层电连接至所述有源层的两端。
7.如权利要求6所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,所述导体化工艺为等离子体处理方式、离子注入处理方式、紫外光照射处理方式或微波处理方式。
8.如权利要求6所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,所述湿刻蚀工艺的过刻量大于20%。
9.如权利要求6所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,所述光罩制程采用半色调掩膜版。
10.如权利要求6~9任一项所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,所述阵列基板的制作方法还包括:
在所述源极的远离所述栅极绝缘层的一侧形成钝化层,所述钝化层同时覆盖所述源极、所述漏极以及所述有源层,所述钝化层具有通孔,所述通孔用以暴露出部分所述漏极;和
在形成在所述钝化层的远离所述源极的一侧形成像素电极,所述像素电极通过所述通孔连接至所述漏极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的