[发明专利]电子元件测试系统

说明书

本发明揭示一种电子元件测试系统，包含机架、托盘置放区、测试区、前区移载装置以及测试区移载装置。托盘置放区邻接设置于机架。测试区邻接设置于机架上，包含电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试。前区移载装置可于托盘置放区及测试区内位移地设置于机架上，用以取置托盘于托盘置放区。测试区移载装置可于测试区位移地设置于机架上，测试区移载装置用以更换待测试的托盘与经测试后的托盘。

技术领域

本发明实施例系与测试系统有关，特别是有关于一种电子元件测试系统。

背景技术

按，随着电子产业的发展越趋成熟，客户端对于产品良率的要求也越来越高，因此，电子元件如集成电路(IC)经封装完成后必须经过测试，测试后依测试结果进行分类(bin)，最后再依分类别做出货或其他的处置。

而电子元件测试系统极为精密因此造价非常昂贵，因此，业者无不设法降低测试成本、提高测试产能。然而，一般的测试系统系在电子元件测试装置的分布范围内设置轨道，移载装置滑走于轨道上取置承载有电子元件的测试托盘。当电子元件测试装置内的测试托盘完成测试后，移载装置由轨道位移至电子元件测试装置取出已测试完成的测试托盘，并将已测试完成的测试托盘移载至存放已测试托盘的集放区。移载装置将已测试完成的测试托盘移载至存放已测试托盘的集放区之后，再位移至存放有待测试托盘集放区的位置拾取待测试托盘。移载装置拾取待测试托盘后再由轨道将待测试托盘送入电子元件测试装置进行测试。电子元件测试系统即依上述步骤进行连续循环的测试工作。

由前述可知，当移载装置将已测试托盘由电子元件测试装置取走后，直到移载装置再次拾取未测试装置送入电子元件测试装置的过程中，电子元件测试装置因等待换盘的时间而成为闲置状态，而此闲置状态就造成提高测试产能的阻碍，因而亟待改善。

发明内容

本发明为一种电子元件测试系统，主要目的为改善一般电子元件测试系统测试效率仍待改善的缺失。

为达前述目的，本发明一实施例为一种电子元件测试系统，包含机架、托盘置放区、测试区、前区移载装置以及测试区移载装置。托盘置放区邻接设置于机架。测试区邻接设置于机架上，包含电子元件测试装置用以对托盘内的电子元件进行测试。前区移载装置可于托盘置放区及测试区内位移地设置于机架上，用以取置托盘于托盘置放区。测试区移载装置可于测试区位移地设置于机架上，测试区移载装置用以取置待测试的托盘于前区移载装置并与经电子元件测试装置测试后的托盘进行更换。

通过测试区移载装置以及前区移载装置可位移于测试区及托盘置放区的配置，以及测试区移载装置可更换待测试托盘及已测试托盘的技术特征，藉此能快速交换已测试托盘及待测试托盘，减少电子元件测试装置的测试空窗时间，大幅提高测试效率。

附图说明

图1为本发明电子元件测试系统的一实施例的配置图。

图2为本发明电子元件测试系统的前区移载装置的一实施例的示意图。

图3为图2的局部放大图。

图4为图2实施例的动作示意图。

图5为本发明电子元件测试系统的测试区移载装置的一实施例的示意图。

图6为图5的局部放大图。

图7为图5实施例的动作示意图。

其中附图标记为：

10机架 11第一延伸梁

12第二延伸梁 13支柱

14轨道 20托盘置放区

21操作台 211操作面板

212窗口 22集料盘

30测试区 30A第一测试区