[发明专利]电子元件测试系统在审
| 申请号: | 201710355965.6 | 申请日: | 2017-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN108957034A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
| 发明(设计)人: | 林源记;谢志宏;林世芳 | 申请(专利权)人: | 亚克先进科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/01 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 王玉双;李岩 |
| 地址: | 中国台湾苗粟县头*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 托盘 测试区 移载装置 置放区 测试 电子元件测试系统 邻接设置 前区 电子元件测试装置 | ||
1.一种电子元件测试系统,其特征在于,包含:
一机架;
一托盘置放区,邻接设置于该机架;
一测试区,邻接设置于该机架上,包含多个电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试;
一前区移载装置,可于该托盘置放区及该测试区内位移地设置于该机架上,用以取置该托盘于该托盘置放区;以及
一测试区移载装置,可于该测试区位移地设置于该机架上,该测试区移载装置用以取置待测试之托盘于该前区移载装置并与经该电子元件测试装置测试后之托盘进行更换。
2.如权利要求1所述的电子元件测试系统,其特征在于,该测试区移载装置设置于该机架上并可沿一第一方向位移。
3.如权利要求2所述的电子元件测试系统,其特征在于,该测试区的数量为二,该二测试区于垂直该第一方向的一第二方向上具有间距,而该测试区移载装置位于二该测试区之间。
4.如权利要求3所述的电子元件测试系统,其特征在于,该二测试区个别包含多个电子元件测试装置,该二测试区的该多个电子元件测试装置呈矩阵排列。
5.如权利要求3所述的电子元件测试系统,其特征在于,该二测试区个别包含多个电子元件测试装置,该二测试区的该多个电子元件测试装置沿该第一方向及垂直该第一方向及该第二方向的一第三方向呈矩阵排列。
6.如权利要求5所述的电子元件测试系统,更包含一滑座,沿该第二方向延伸,该滑座设置于该托盘置放区,该前区移载装置可沿该第二方向移动地设置于该滑座。
7.如权利要求6所述的电子元件测试系统,其特征在于,该前区移载装置包含一载座、一延伸位移组件以及一承台,该载座可沿该第二方向位移地设置于该滑座,该延伸位移组件可沿该一第方向位移地设置于该载座,该承台可沿该第三方向位移地设置于该延伸位移组件。
8.如权利要求7所述的电子元件测试系统,其特征在于,该前区移载装置更包含一支撑座,该支撑座可沿该第三方向位移地设置于该延伸位移组件,该承台可转动地设置于该支撑座。
9.如权利要求8所述的电子元件测试系统,其特征在于,该延伸位移组件包含一第一导引组件、一第一延伸座、一第二导引组件以及一第二延伸座,该第一导引组件沿该第一方向延伸并设置于该载座,该第一延伸座可沿该第一方向位移地设置于该第一导引组件,该第二导引组件沿该第一方向延伸并设置于该第一延伸座,该第二延伸座可沿第一方向移动地设置于该第二导引组件,该支撑座设置于该第二延伸座。
10.如权利要求5所述的电子元件测试系统,其特征在于,该机架包含一导轨,该导轨沿该第一方向延伸并位于该二测试区之间,该测试区移载装置设置于该导轨上。
11.如权利要求10所述的电子元件测试系统,其特征在于,该测试区移载装置包含一动柱、一待测托盘移载模块及一已测托盘移载模块,该动柱沿该第三方向延伸并可沿该第一方向移动地设置于该导轨上,该待测托盘移载模块以及该已测托盘移载模块可沿该第三方向移动地设置于该动柱上,该待测托盘移载模块用以取置待测试的托盘于该前区移载装置,该已测托盘移载模块用以取置经该电子元件测试装置测试后的托盘。
12.如权利要求11所述的电子元件测试系统,其特征在于,该测试区移载装置更包含一升降导引组件及一载台,该升降导引组件沿该第三方向延伸并设置于该动柱上,该载台可滑移地设置于该升降导引组件上,该待测托盘移载模块以及该已测托盘移载模块可转动地设置于该载台上。
13.如权利要求12所述的电子元件测试系统,其特征在于,该测试区移载装置更包含一视觉取像模块,该视觉取像模块可转动地设置于该载台上。
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