[发明专利]磁环的来料检验方法

说明书

技术领域

本发明涉及日用电器领域，具体涉及一种磁环的来料检验方法。

背景技术

IQC即来料品质检验，指对采购进来的原材料、部件或产品做品质确认和查核，即在供应商送原材料或部件时通过抽样的方式对产品进行检验，并最后做出判断该批产品是接收还是退换。

IQC是企业产品在生产前的第一个控制品质的关卡，如把不合格品放到制程中，则会导致制程或最终产品的不合格，造成巨大的损失。IQC不仅影响到公司最终产品的品质，还影响到各种直接或间接成本。

在制造业中，对产品品质有直接影响的通常为设计、来料、制程、储运四大主项，一般来说设计占25％，来料占50％，制程占20％，储运1％到5％。综上所述，来料检验对公司产品质量占压倒性的地位，所以要把来料品质控制升到一个战略性地位来对待。

现有技术中，对于磁环的来料检验方法尚未见报道。

发明内容

本发明的目的是克服上述现有技术的不足之处，提供一种磁环的来料检验方法，以提高供货质量。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：一种磁环的来料检验方法，包括以下步骤：步骤1：目测：磁环有无变形、破裂、结晶体等；步骤2：尺寸：根据规格要求，用卡尺测量出磁环的内径、外径和高，并记录下来；步骤3：参数稳定性：首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线，再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识，把磁环都放入烘箱内，并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外，最后用万用表测量每个磁环在温度变化5-10℃下参数值；步骤4：另外抽选部分磁环，置入烘箱中，加温到100℃恒定4小时，恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值；步骤5：将抽检情况记录在来料检验报告表上，并判定允收或退货。

进一步地，退货依据：变形、高度偏高、破损、有结晶体。

更进一步地，判定为退货时，需将磁环进行全检，挑出良品，将坏品退货。

进一步地，磁环参数额定值为≤0。

本发明的有益效果：本发明特地制定磁环的来料检验方法，利用烘箱升温来测量抽选的磁环以观察其参数稳定性，进一步地加强品质监督，提高供货质量，促使生产效率提高。

本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。

具体实施方式

结合下列实施例对本发明做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

本发明磁环的来料检验方法，包括以下步骤：

步骤1：目测：磁环有无变形、破裂、结晶体等。

步骤2：尺寸：根据规格要求，用卡尺测量出磁环的内径、外径和高，并记录下来。

步骤3：参数稳定性：首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线，再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识，把磁环都放入烘箱内，并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外，最后用万用表测量每个磁环在温度变化5-10℃下参数值，磁环参数额定值为≤0。

步骤4：另外抽选部分磁环，置入烘箱中，加温到100℃恒定4小时，恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值。

步骤5：将抽检情况记录在来料检验报告表上，并判定允收或退货。符合规格要求的，允收；有下列情形的退货：变形、高度偏高、破损、有结晶体。

判定为退货时，需将磁环进行全检，挑出良品，将坏品退货。

以下为磁环的规格要求：

尽管本发明的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节和这里示出与描述的实施例。