[发明专利]磁环的来料检验方法在审

专利信息
申请号: 201710345677.2 申请日: 2017-05-16
公开(公告)号: CN107270962A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 何保明 申请(专利权)人: 浦北县富通电子科技有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 代理人: 魏忠晖
地址: 535300 广西壮族自治*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 来料 检验 方法
【权利要求书】:

1.一种磁环的来料检验方法,其特征在于包括以下步骤:

步骤1:目测:磁环有无变形、破裂、结晶体等;

步骤2:尺寸:根据规格要求,用卡尺测量出磁环的内径、外径和高,并记录下来;

步骤3:参数稳定性:首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线,再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识,把磁环都放入烘箱内,并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外,最后用万用表测量每个磁环在温度变化5-10℃下参数值;

步骤4:另外抽选部分磁环,置入烘箱中,加温到100℃恒定4小时,恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值;

步骤5:将抽检情况记录在来料检验报告表上,并判定允收或退货。

2.根据权利要求1所述的磁环的来料检验方法,其特征在于:退货依据:变形、高度偏高、破损、有结晶体。

3.根据权利要求2所述的磁环的来料检验方法,其特征在于:判定为退货时,需将磁环进行全检,挑出良品,将坏品退货。

4.根据权利要求1所述的磁环的来料检验方法,其特征在于:磁环参数额定值为≤0。

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