[发明专利]一种测量放样方法、装置及系统

权利要求书

1.一种测量放样方法，其特征在于，包括：

从多个测量站中确定一个主站和至少一个辅站；

获取所述主站和所述辅站的位置信息，以及待测点的平面坐标信息；所述位置信息包括：平面坐标信息和高程信息；根据所述待测点的平面坐标信息和所述主站的位置信息确定所述主站与所述待测点的第一平面夹角，以及根据所述待测点的平面坐标信息和所述辅站的位置信息确定所述辅站与所述待测点的第二平面夹角；

根据所述第一平面夹角和所述第二平面夹角投射外红点，计算所述外红点的平面坐标信息；

根据所述外红点的平面坐标信息与所述待测点的平面坐标信息计算所述外红点与所述待测点的位置差，当所述位置差小于预设阈值时，获取所述主站与所述外红点的第一仰角，以及所述辅站与所述外红点的第二仰角；

根据所述第二仰角、所述待测点的平面坐标信息和所述辅站的位置信息，确定所述待测点的高程信息；或者，根据所述第一仰角、所述待测点的平面坐标信息和所述主站的位置信息，确定所述待测点的高程信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测点的平面坐标信息和所述主站的位置信息确定所述主站与待测点的第一平面夹角利用下述公式计算得到：

公式中，α_m表示待求的第一平面夹角；x_m和y_m为所述主站的平面坐标值；x_o和y_o为所述待测点的平面坐标值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测点的平面坐标信息和所述辅站的位置信息确定所述辅站与所述待测点的第二平面夹角，采用下述公式计算得到：

公式中，α_s表示待求的第二平面夹角；x_s和y_s为所述辅站的平面坐标值；x_o和y_o为所述待测点的平面坐标值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一平面夹角和所述第二平面夹角投射外红点包括：

所述辅站的外红设备根据所述第二平面夹角，采用不同仰角投射外红点，并利用所述辅站的镜头获取图像，直至所述辅站的镜头获取的图像中包含所述待测点；

所述主站的外红设备根据所述第一平面夹角，采用不同的仰角投射外红点，直至所述主站的外红设备投射的外红点与所述辅站的外红设备投射的外红点重合。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述外红点的平面坐标信息利用下述公式计算得到：

y₁＝y_m+Tan(α_m)×x_o-Tan(α_m)×x_s

上述公式中，α_m表示第一平面夹角；α_s表示第二平面夹角；x_m和y_m为所述主站的平面坐标值，x_s和y_s为所述主站的平面坐标值；x₁和y₁为待求的所述外红点的平面坐标值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述位置差用于表征所述外红点与所述待测点的位置偏差程度；所述位置差是所述外红点与所述待测点的直线距离。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二仰角、所述待测点的平面坐标信息和所述辅站的位置信息，确定所述待测点的高程信息，具体为利用下述公式计算得到：

公式中，h_o表示待求的待测点的高程；θ_s表示所述第二仰角；x_o和y_o为待测点的平面坐标值，x_s、y_s、h_s为辅站的位置信息，为已知值。